x
x

测试测量文章列表

SaskTel采用泰克RSA306B基于USB的频谱分析仪跟踪欧洲DECT手机发出的干扰

客户解决方案摘要挑战 –– SaskTel是加拿大萨省领先的信息通信技术提供商,面临着来自欧洲的DECT手机发出的干扰问题,因为这些干扰信号与SaskTel持有牌照的10 MHz频谱重合。事实证明,如果使 ...
2017年10月17日 16:59   |  
RSA306B   频谱分析   干扰  
力科640Zi示波器无法开机怎么办?

力科640Zi示波器无法开机怎么办?

  力科640Zi示波器维修案例   一、仪器型号:640Zi力科示波器   二、仪器故障:不开机   三、故障检测:   1.加电没反应,   2.打开机壳观察主电源;主供电接口插头有烧焦痕迹 ...
2017年10月16日 14:38
安捷伦42841ALCR偏流源拆机维修分解

安捷伦42841ALCR偏流源拆机维修分解

安捷伦42841ALCR偏流源维修案例 一、仪器型号:安捷伦42841ALCR偏流源 二、仪器故障:输出电流保护 三、故障检测: 1.外观正常,加电可以开机 2.经检查发现电源板供电异常 3.静态测试主 ...
2017年10月16日 14:29
基于magnum 2 测试系统的NAND FLASH VDNF64G08RS50MS4V25-III的测试技术研究

基于magnum 2 测试系统的NAND FLASH VDNF64G08RS50MS4V25-III的测试技术研究

作者:汤凡,王烈洋,占连样,张水苹,王鑫,陈像,黄小虎 摘要:NAND FLASH在电子行业已经得到了广泛的应用,然而在生产过程中出现坏块和在使用过程中会出现坏块增长的情况,针对这种情况, ...
2017年10月13日 14:17   |  
magnum II   NAND FLASH  
安捷伦功率计E4418B维修案例

安捷伦功率计E4418B维修案例

  安捷伦功率计E4418B维修案例   一.仪器型号:E4418B   二.故障描述:上电后,开关键灯亮,但是按开关不能开机,屏幕不亮。   三.检测与维修:   检测:开机检测,内部供电 ...
2017年10月12日 10:12
大功率射频功率放大器27300功率输出不够怎么办?

大功率射频功率放大器27300功率输出不够怎么办?

  射频功率放大器(RFPA)是各种无线发射机的重要组成部分。在发射机的前级电路中,调制振荡电路所产生的射频信号功率很小,需要经过一系列的放大一缓冲级、中间放大级、末级功率放大级,获得 ...
2017年10月12日 10:02
泰克示波器DPO3014拆机维修过程

泰克示波器DPO3014拆机维修过程

  泰克示波器DPO3014维修案例   仪器:示波器   品牌:泰克   型号:DPO3014   一.故障描述:CH3不能测试和使用,且SPC不能通过。   二.检测:   (1)加载示波器探头 ...
2017年10月11日 15:34
MCC温度测试系统小科普

MCC温度测试系统小科普

MCC公司供稿 数据采集其实是测试测量里面很小的一个环节,当工程师在构思测试测量系统的时候,经常会把主要的精力放在传感器上,因为合适的传感器可以帮助提高整个测试系统的精度,可靠性和 ...
2017年09月15日 14:49   |  
温度测试   数据采集   温度传感器  
DS数字衰减器SCPI命令使用方法

DS数字衰减器SCPI命令使用方法

DS 数字衰减器SCPI命令使用方法1 USB接口1.1 相关面板组件USB接口与相关的前面板按键如图1和图2所示。 图1 DAT64L前面板用户控制按钮 图2 DAT64L后面板USB端口1.2 特性与规格用户可向数字衰减 ...
2017年09月15日 10:43   |  
测试测量   数字衰减器   SCPI命令  

搭建PXI系统,不只有NI

带图完整版请阅读文末附件! 通常情况下,提起搭建PXI系统,首先想到的是NI。但是小编要告诉大家,构建PXI系统不仅仅只有NI,本文会介绍一种更加紧凑、简便、通用性更高的PXI系统。本 ...
2017年09月13日 16:22   |  
PXI系统   PXI机箱   PXI控制器   测试测量  
基于J750EX测试系统的SRAM VDSR32M32测试技术研究

基于J750EX测试系统的SRAM VDSR32M32测试技术研究

作者:王鑫,王烈洋,占连样,陈像,张水苹,汤凡,黄小琥,李光 摘要: VDSR32M32是珠海欧比特公司自主研发的一种高速、大容量的静态随机器(SRAM)用其对大容量数据进行高速存取。本文首先介 ...
2017年08月30日 16:42   |  
J750EX   VDSR32M32   SRAM   DSIO  
基于magnum II测试系统的MRAM VDMR8M32测试技术研究

基于magnum II测试系统的MRAM VDMR8M32测试技术研究

作者:张水苹,王烈洋,占连样,陈像,汤凡,王鑫,黄小琥,李光 摘要: VDMR8M32是珠海欧比特公司自主研发的一种高速、大容量的TTL同步静态存储器(MRAM),可利用其对大容量数据进行高速存取 ...
2017年08月28日 16:53   |  
magnum   VDMR8M32   MRAM   APG  

厂商推荐

  • Microchip视频专区
  • AOE | 时钟与时序(4/7):频率与相位之间的关系是怎样的?
  • AOE | 时钟与时序(2/7):什么是理想时钟?
  • 初学者在电源电路设计中常犯的错误(以及如何避免)
  • AOE | 时钟与时序(6/7):稳定性与精度的区别是什么?
  • 贸泽电子(Mouser)专区

本周文章排行榜

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
返回顶部