系统设计文章列表

工程设计是为傻瓜准备的(我就是活生生的例子)

工程设计是为傻瓜准备的(我就是活生生的例子)

作者:Mohamed Ismail,Maxim Integrated技术服务部高级技术人员 我第一次从零开始设计和搭建自己的PCB可谓我电子生涯的一座里程碑,但事实上,也是一场巨大的灾难。 受我钟爱的《吉他英 ...
2017年05月17日 16:32   |  
工程设计   触摸传感   原型设计  

Linux字符设备驱动模型之点亮LED灯

在前面的文章中,已经描述了整一个字符设备模型,那现在,可以来使用相应的模型进行操作硬件设备了。那么,从点亮一个LED灯开始。一、设备控制操作1.理论基础大部分驱动程序除了需要提供读写设 ...
2017年04月09日 10:45
利用TI CapTIvate 触控技术应对电容触摸设计挑战

利用TI CapTIvate 触控技术应对电容触摸设计挑战

TI公司供稿 通常而言,电容式触控面板有时会比较难以处理,尤其是在下雨的时候,落下的雨滴与指尖的触感十分相似,而当用干毛巾擦拭面板时,还可能导致少部分微控制器(MCU)失控。 对于 ...
2017年03月08日 17:46   |  
触控   电容式  

高成本效益的实用系统方法 - 解决QFN-mr BiCMOS器件单元测试电源电流失效问题

作者: Antonio R. Sumagpang Jr. Francis Ann B. Llana Ernani D. Padilla 意法半导体卡兰巴工厂封装制造部 摘要 本文探讨一套解决芯片单元级电测试过程电源电流失效问题的方法。当 ...
2017年03月02日 15:59   |  
电流失效   BiCMOS  
USB Type-C:您的ESD解决方案是否保护端口?

USB Type-C:您的ESD解决方案是否保护端口?

若您是一名设计师,负责将系统中的USB端口迁移到最新的USB标准和USB Type-C连接器,那么您可能已考虑过一些事情了。 ESD保护 首先,跟从外部将连接器暴露给用户的所有系统一样,您的系统 ...
2017年01月09日 14:17   |  
USB   Type-C  
AMP为您的下个 SoC 项目助力

AMP为您的下个 SoC 项目助力

作者:Scott McNutt 高级软件工程师 DesignLinx Hardware Solutions 公司 smcnutt@designlinxhs.com 嵌入式系统一般分为两大类:需要硬实时性能的;和不需要硬实时性能的。过去 ...
2016年08月02日 14:33   |  
嵌入式系统   非对称多处理   AMP   多处理  
嵌入式系统的秘诀

嵌入式系统的秘诀

随着嵌入式系统不断普及,我们可以从积累的开发知识中获得巨大优势,构建更出色的系统 作者:Adam Taylor ,e2v 首席工程师 aptaylor@theiet.org 工程师一刻也没忘记交付达到质量、时间 ...
2016年08月02日 14:22   |  
嵌入式系统   系统工程  
可视化系统集成器大大加快系统开发

可视化系统集成器大大加快系统开发

作者:Kenshin System View公司是一家位于美国加州的早期创业型公司,公司的主要产品和业务是设计开发当今嵌入式系统集成开发所使用的工具,打破传统,推出更加高效便捷的开发工具。近期该公 ...
2016年08月02日 13:35   |  
开发工具   “可视化   Vivado   IP集成  
e络盟解读如何缩短设计周期

e络盟解读如何缩短设计周期

作者:陈嘉伟,e络盟亚太区技术市场经理 电子工程师在设计可穿戴设备的时候往往会受到诸多限制,如功耗、重量和尺寸等,而其中对于大多数工程师来说,最为关键的一个设计参数便是产品上市速 ...
2016年06月17日 14:42   |  
设计周期   MCU设计   设计模式   传感器设计  
惊呆了!知识经验库分析系统模仿人工智能处理IT故障

惊呆了!知识经验库分析系统模仿人工智能处理IT故障

惊呆了!知识经验库分析系统模仿人工智能处理IT故障 IT的运维管理对企业来说,已经越来越重要,IT的运维也不应再是单打独斗,如果协调、培训好运营的团队,如何让用户最简单地了解故障并处理故 ...
2016年06月03日 17:54

3D扫描讲解:开发人员可采用的五个基本步骤

作者:Hakki Refai,Optecks公司首席技术官,Optecks是一家致力于基于DLP技术开发产品和解决方案的公司,是TI DLP®设计公司网络的成员。 当今世界,为物体和数据建立3D模型的表现方式是 ...
2016年05月10日 11:40   |  
DLP   3D扫描  
如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

作者: AbhishekMahajan 因LBIST向量的随机本性,采用LogicBIST设计会表现出抗随机模型的趋向,从而导致低的故障覆盖范围。为解决该问题,我们借助抗随机故障分析(RRFA)方法,插入测试点。对 ...
2016年03月30日 14:41   |  
LBIST   故障分析   故障模拟  

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