作者:明导硅测试解决方案部门良率分析产品经理Geir Eide
半导体良率取决于许多因素。如果您的设备使用领先的工艺生产,您可能与代工厂不辞辛劳地密切合作以确保工艺和产品良率有一定程度的 ...
作者: Carey Robertson
电路可靠性 , 亦即电路抗电气故障的鲁棒性(robustness) , 已日益成为IC设计师的关注点。其中的很多问题多年来已为人所知,有时人们觉得可靠性风险主要是最新制程世代才 ...
作者:Carey Robertson,产品营销、电路布局验证和参数提取总监,明导Design to Silicon部门
鳍式场效晶体管(简称 finFET)的推出标志着 CMOS 晶体管首次被看作是真正的三维器件。由于源漏 ...
从工业自动化到医疗设备,从家用电器到车载娱乐信息系统,嵌入式系统对于日益增多的现代产品的运行和功能而言至关重要。在这个充满变幻不定的期望以及几乎所有公司都在尽力追求浮华“酷炫”的用 ...
作者:明导 Calibre 设计解决方案新市场与新兴市场产品营销经理 Christen Decoin
在高级节点,有效的电网分析是确保小尺寸连接器可以处理电流需求,而不会造成潜在失效模式或信号完整性问题 ...
作者:Joe Kwan,来自明导
如今对于一些技术节点,设计人员需要在晶圆代工厂流片和验收之前进行光刻友好设计 (Litho Friendly Design) 检查。由于先进节点的解析度增进技术 (RET) 限制,即使 ...
嵌入式技术作为21世纪智能时代的核心技术,越来越多的在科技和生活领域承担起支柱性作用,同时也引领着新时代的人们奔赴充满想象的未来。今天嵌入式系统的应用已经渗入到社会生产、生活的各个方 ...
挑战
当今汽车、越野车辆、航天航空和国防领域的制造商面临的挑战主要是对不断缩短设计周期,同时保持或提高质量的需求。在电气设备增加,以及源于增加成品定制化服务的市场需求而使复杂性提 ...
作者:Ron Press,明导
对于许多现有的和未来的集成芯片器件来说,一项主要挑战就是如何为庞大数量的设计创建测试图案。对于有百万门甚至数亿门的设计,传统上等到设计完成再创建测试图案的 ...
作者:明导高级物理验证方法项目经理David Abercrombie
曾经,我花了大量时间谈论双重图案微影技术。我认为是时候开始展望多重图案微影的发展前景了(不要惊慌!)。正如您可能听过或者读过 ...
作者:Maxim应用工程师Bill Laumeister
对一个复杂的设备进行故障诊断的时候,知识储备是最重要的。我们想要并且需要去了解相关的一些问题。它包括正确的IC版本号,在哪里可以找到有关的参考 ...
Ron Wilson,总编辑,Altera公司
对基于SoC系统设计正确方法的争论非常激烈。是传统的寄存器传送级(RTL)流程?还是C语言行为模型的高级综合?减少了代码生成的知识产权(IP)重用方法又怎样呢?
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