测试测量文章列表

选择相干光学采集系统的关键因素

选择相干光学采集系统的关键因素

作者: Dean Miles 随着数据需求的增长,网络运营商一直在寻找新的方法来提高现有光学网络的数据吞吐量。为了达到100Gb/s、400Gb/s、1Tb/s甚至更高的速度,复杂的调制格式变得非常流行。这 ...
2015年10月19日 11:02   |  
相干光学   光学采集   光学网络  
浅述艾德克斯车载充电机测试方案

浅述艾德克斯车载充电机测试方案

数据显示,2015年第一季度,在多重利好政策的刺激下,国内新能源汽车市场增长加快,仅第一季度新能源汽车乘用车销售达到26581辆。当然电动汽车在发展的同时,离不开与之配套的基础设施的建设。 ...
2015年09月09日 16:16   |  
充电机   车载充电   电池管理系统  
艾德克斯便携式锂电池安全测试方案

艾德克斯便携式锂电池安全测试方案

引言 锂电池在人们的生活和生产中运用越来越广泛,自从2007年苹果公司发布智能手机,随后又推出平板电脑以来,全球便进入了智能化时代,对智能手机和平板电脑等便携式产品的强烈需求快速推动 ...
2015年09月09日 16:11   |  
可穿戴设备   便携式设备   手持设备   移动通信设备   锂电池测试  
如何降低测试中的噪声

如何降低测试中的噪声

在测量过程中,有些被测件对直流电源输入中的噪声非常敏感,直接关乎到测试数据的准确性甚至测试是否能进行,那么怎样尽可能地减少输入噪声呢?我们需要从多方面来考虑,下面是我们概括的最简单 ...
2015年09月09日 16:08   |  
输入噪声   测试  
可编程线性直流电源如何提高测试效率

可编程线性直流电源如何提高测试效率

线性电源是先将交流电经过变压器降低电压幅值,再经过整流电路整流后,得到脉冲直流电,后经滤波得到带有微小波纹电压的直流电压。线性电源的优点在于稳定度高、精度高,纹波小,在一些领域是必 ...
2015年09月09日 16:04   |  
直流电源  

摩尔定律催生新的测试产品种类

今年是戈登·摩尔的著名论文《往集成电路中塞进更多元件》发表50周年。这篇论文是摩尔定律的基础。重读这篇论文,我被摩尔对未来的洞察力和见解深深打动。仅从1962年至1965年的4个数据点,摩尔 ...
2015年09月02日 10:13   |  
摩尔定律   测试测量  

使用PWM和PAM测量电路的交流功耗

通过采样电压与电流的乘积并进行平均处理可以完成60Hz电路的平均功耗测量(相当于VRMS × IRMS × cos(φ))。这里要用四象限乘法,因为瞬时电压和电流可能具有相反的极性。它有很多种实现方法, ...
2015年08月28日 10:32   |  
PWM   PAM   交流功耗  

6种可测试高速通信信号的数字示波器,你都知道吗?

随着电子设备越来越多地采用射频和数字器件,测试设备正开始将一系列更高级的测量工具整合起来,用于高速通信信号测试。被普遍认为是实验台中心的数字示波器,也没有回避这一波集成的浪潮。最新 ...
2015年08月24日 10:35   |  
示波器   高速通信   是德科技  
为什么将放大器装在示波器的探头尖端?

为什么将放大器装在示波器的探头尖端?

作者: Arthur Pini, Lawrence Jacobs 近日,有读者问“为什么示波器厂商把放大器放在探头尖端,而不在示波器内?”将放大器放在探头可最大限度地降低探头和线缆对信号造成的损耗,但这是如何 ...
2015年07月17日 11:39   |  
放大器   示波器   探头  
NFC/RFID器件信号分析助力全兼容测试

NFC/RFID器件信号分析助力全兼容测试

作者: 冯永沂,高育财 自从2014年九月苹果公司推出Apple Pay新一代的流动支付,接着三星公司在今年三月也推出了Samsung Pay,这带来了NFC功能的智能手机和手表替传统信用卡的新机遇,于是,很 ...
2015年06月24日 14:04   |  
NFC   RFID   全兼容  
感测的内容是什么? 用于电容感测的有源屏蔽

感测的内容是什么? 用于电容感测的有源屏蔽

作者:David Wang,德州仪器 你在传感器系统中是否遇到过电容测量值的波动呢?对于这些测量值的波动有几种解释,但是最常见的根本原因是外部寄生电容干扰。这种干扰,比如说不经意间将手靠的 ...
2015年06月17日 15:21   |  
寄生电容   电容测量   电容感测  
使JTAG边界扫描与功能测试相结合

使JTAG边界扫描与功能测试相结合

作者: IPSES, XJTAG 生产后的中度复杂的印刷电路板(PCB)传统上使用在线测试(ICT)和功能测试来进行检测。其它的测试方法,例如昂贵的光学和X光检查,经常是必须的,以来验证BGA被正确地放 ...
2015年06月16日 14:40   |  
JTAG   边界扫描  

厂商推荐

  • Microchip视频专区
  • Cortex-M4外设 —— TC&TCC结合事件系统&DMA优化任务培训教程
  • 我们是Microchip
  • 利用模拟开发工具生态系统进行安全电路设计
  • 你仿真过吗?使用免费的MPLAB Mindi模拟仿真器降低设计风险
  • 贸泽电子(Mouser)专区

本周文章排行榜

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
返回顶部