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同惠TH2851 LCR测试仪使用说明

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发表于 3 天前 | 显示全部楼层 |阅读模式
关键词: 同惠 , TH2851 , LCR测试仪 , 使用说明
一、仪器概述
同惠TH2851 LCR测试仪是一款高精度、宽频段阻抗分析仪器,适用于电子元件(电感电容电阻)及材料的电学参数测量。其核心特点包括:
1. 频率范围:20Hz~120MHz,覆盖低频至高频应用场景;
2. 测量精度:0.08%(全频段),阻抗测量范围1mΩ~100MΩ;
3. 多功能集成:支持阻抗(Z)、电容(C)、电感(L)、相位角(θ)、品质因数(Q)等参数测量;
4. 智能操作:10.1触摸屏+SCPI指令集,兼容主流测试协议(如HP4284AE4980A)。
TH2836.jpg
二、安装与启动
1. 环境要求
避免强电磁干扰(远离大功率设备),保持环境温度15~30℃(推荐使用恒温环境);
电源:AC 220V±10%50Hz,接地良好。
2. 硬件连接
连接测试夹具:根据元件类型选择四端对(4T)或两端口(SMD)夹具;
信号输出:通过BNC接口连接被测元件(DUT),确保接触电阻<0.1Ω。
3. 开机与校准
按下电源键,等待自检完成(约30秒);
首次使用需进行系统校准:
a. 进入“SystemCalibration”菜单,选择“Full Calibration”;
b. 按提示连接标准校准件(如0Ω、100pF),完成开路/短路校准。
三、基本操作流程
1. 参数设置
测量模式:
点测模式:单次测量固定参数(如C=10nF@1kHz);
列表扫描:设置频率/电平列表,批量测试(如1kHz~10MHz,步长1kHz);
曲线扫描:动态分析参数随频率/电平的变化(如C-f曲线)。
关键参数配置:
参数
设置建议
频率
根据元件应用场景选择(如音频选1kHz射频10MHz
AC信号电平
0.1V~1V(避免过驱动导致非线性误差)
平均次数
高频测量设为10次,降低随机噪声
2. 测量步骤
连接DUT至测试端口;
选择测量模式(如C-LCR”),设置频率与电平;
触发测量:按Start”键或点击触摸屏图标;
记录结果:读取显示屏数值(如C=12.34nF±0.5%),或导出至USB/PC
四、高级功能与技巧
1. 曲线扫描分析
应用场景:评估元件动态特性(如可调电阻的线性度)。
操作步骤:
a. 设置扫描参数:频率范围(如100Hz~1MHz)、扫描点数(≥100);
b. 连接步进电机控制可调电阻滑动端;
c. 启用“轨迹对比”功能,实时绘制C-f曲线;
d. 分析曲线平滑度与突变点(如接触不良导致的阻抗跳变)。
2. 等效电路分析(ECA
功能:通过数学模型解析元件内部结构(如寄生电容、串联电阻)。
示例:
a. 选择“ECA3元件模型”(R-C串联);
b. 输入实测参数(Z=50Ω@1kHz),系统自动拟合RC值;
c. 验证理论值与实测偏差,指导元件选型。
3. 温度补偿与抗干扰
温度漂移修正:启用TempComp”功能,输入元件温度系数(如TC=25ppm/℃);
电磁屏蔽:高频测量时使用金属屏蔽盒,降低外部干扰。
五、注意事项与故障诊断
1. 接触电阻优化
定期清洁测试夹具镀金触点;
测量前短暂按压夹具,消除机械接触不稳定。
2. 高频测量注意事项
降低信号电平(如10MHz时设为0.1V),避免寄生电容影响;
使用同轴电缆替代普通导线,减少传输损耗。
3. 常见故障排查
问题
可能原因
解决方案
测量值异常波动
接触不良或DUT损坏
更换夹具/重新连接DUT
校准失败
校准件失效或环境干扰
更换标准件/移至屏蔽环境重校准
曲线扫描出现台阶
滑动端磨损或机械振动
更换可调电阻/增加机械固定
六、应用案例:可调电阻线性度评估
1. 测试配置:
元件:10kΩ音频电位器;
频率:1kHz(典型音频范围);
扫描方式:机械旋转角度0°~360°,步长1°。
2. 步骤:
a. 将电位器连接至4T夹具,滑动端与旋转机构同步;
b. 启用曲线扫描,记录R-角度曲线;
c. 计算线性误差:
$\Delta R = \frac{R_{实测}-R_{理论}}{R_{满量程}} \times 100\%$
d. 结果:若ΔR<±1%,判定线性度合格。
七、数据管理与维护
1. 数据导出:支持CSVExcel格式,通过USBLAN接口传输;
2. 仪器维护:
每月进行一次“自检校准”(菜单:SystemSelfTest);
长期不使用时,建议每隔3个月通电1小时,防止电子元件老化。
TH2836-3.jpg
同惠TH2851 LCR测试仪凭借高精度、宽频段及智能操作特性,成为电子研发、生产质控的关键工具。通过规范的操作流程与技巧应用,用户可高效获取元件电学参数,为产品设计优化与故障分析提供可靠数据支撑。

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