东芝进一步扩展Thermoflagger产品线---检测电子设备温升的简单解决方案

发布时间:2023-9-14 19:25    发布者:eechina
关键词: Thermoflagger , 过温检测 , 热敏电阻
东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,进一步扩展Thermoflagger过温检测IC产品线---“TCTH0xxxE系列”。该系列可用于具有正温度系数(PTC)热敏电阻的简单电路中,用来检测电子设备中的温度升高,六款新产品于今日开始支持批量出货。

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为了使电子设备按规定运行,半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数,特别是当它高于设计流程中的假设温度时,它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题,因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。

当配置在具有PTC热敏电阻(其电阻值随温度变化而变化)的简单电路中时,Thermoflagger过温检测IC不仅可以检测温度升高,还可以检测置于热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化,并在温度过高时输出FLAG信号。例如,当Thermoflagger检测到异常发热情况并向MCU发送FLAG信号时,MCU将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。

这六款新产品分别是:TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述产品加上已经发布的TCTH021BE和TCTH022BE,进一步扩展了TCTH0xxxE系列产品线,使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的PTCO输出电流[1]的支持,新产品扩大了PTC热敏电阻的可选范围,既可选择推挽型或开漏型FLAG信号输出类型[2],也可选择使用或不使用FLAG信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围,可以实现低电流消耗的灵活电路设计。

新产品采用小型,符合行业标准SOT–553封装(东芝的封装名称为:ESV),确保TCTH0xxxE系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统,并助力实现尺寸和功耗的双重改善。

除了已经发布的参考设计过温检测IC Thermoflagger的应用电路(TCTH021BE/开漏型)之外,东芝在其官网上又发布了新版参考设计:过温检测IC Thermoflagger应用电路(TCTH021AE/推挽型)。

东芝使用村田制作所(以下简称“村田”)提供的PTC热敏电阻的相关技术信息来实现过温检测解决方案。村田建议将Thermoflagger与PTC热敏电阻结合使用。

村田的推荐IC列表
https://www.murata.com/products/ ... we-f_tss_tes_tmp_xx

村田的PTC热敏电阻
https://www.murata.com/products/ ... we-f_tss_tes_tmp_xx

未来,东芝将继续扩展其产品线,推出采用各种封装、器件特性不断完善的产品,助力提高设计灵活性并实现碳中和目标。

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开漏分配中FLAG信号输出的操作示例

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Thermoflagger TCTH021AE电路板样品

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        应用:
-        移动设备(笔记本电脑等)
-        家用电器
-        工业设备等

        特性:
-        配置简单,可与PTC[1]热敏电阻结合使用
-        通过串联PTC[1]热敏电阻,可同时在多个点进行过温监测。
-        低电流消耗:
IDD=1.8μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IDD=11.3μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)
-        小型标准封装:SOT–553(ESV)
-        扩大了PTC[1]热敏电阻的选择范围,具有两种类型的PTCO输出电流:
IPTCO=1.00μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IPTCO=10.0μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)
-        高PTCO输出电流精度:±8%
-        FLAG信号输出(PTCGOOD)可选择推挽型和开漏型
-        可选择FLAG信号锁存功能

        主要规格:
(除非另有说明,Tj=25℃)

  
器件型号
  
封装
工作电压范围
电气特征
FLAG
  
信号
  
输出
  
(PTCGOOD)
在检测到
  
异常
  
状态
  
  
是否提供
  
FLAG
  
信号
  
锁存
  
功能
库存
  
查询与
  
购买
名称
(尺寸:
  
(mm)
供电
  
电压
  
VDD
  
(V)
工作
  
温度
  
Topr
  
(℃)
PTCO
  
输出
  
电流
  
IPTCO
  
(μA)
检测
  
电压
  
VDET
  
(V)
电流
  
消耗
  
IDD
  
(μA)
UVLO
  
电压
  
VUVLO
  
(V)
典型值
典型值
典型值
典型值
典型值
SOT–553
  
(ESV)
1.6Í1.6、
  
厚度=0.55
1.7至
  
5.5
-40至125
1.00
0.50
1.8
1.5
推挽
  
10.0
11.3
1.00
1.8
开漏
  
10.0
11.3

注:

[1] PTCO输出电流:由过温检测IC提供给PTC热敏电阻的恒定电流。
[2] 当过温检测IC检测到错误时,就会输出FLAG信号。推挽型由两个垂直堆叠的MOSFET组成。输出电流以任一方向流入和流出。开漏型由一个MOSFET组成。输出电流只向一个方向流动。
[3] FLAG信号锁存功能在过温检测IC检测到错误(即使只有一次)后保持FLAG信号。过温检测IC不能自行恢复;需要通过从MCU等将信号输入到RESET引脚来恢复。
[4] 之前发布的产品


如需了解有关新产品的更多信息,请访问以下网址:
TCTH011AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH011AE.html

TCTH012AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH012AE.html

TCTH021AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH021AE.html

TCTH022AE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH022AE.html

TCTH011BE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH011BE.html

TCTH012BE
https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH012BE.html


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