楼主: wb61850

从零开始学电子之基础篇

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 楼主| 发表于 2010-7-19 02:12:11 | 显示全部楼层
“产品的可靠性与规定的条件密切相关”
呵呵,这个更好理解了。比方说“我”这个产品吧,如果要是放在零下50度或者零上50度的环境中,恐怕支撑不了多久就屁掉了。
不是我不可靠,而是条件太残酷了阿。呵呵
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:13:01 | 显示全部楼层
还好,我现在处于32度的环境中。
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:15:55 | 显示全部楼层
“产品可靠性与规定的时间有关”
呵呵,这个好理解啊。比方说“我”这个产品吧,100年后肯定是变为尘土了,还有啥功能么。
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:18:56 | 显示全部楼层
“产品的可靠性还与规定的功能有密切的关系”

哈哈,这个就更好理解了啊。比方说“我”这个产品吧,你要是让我当“超人”肯定是不行的,因为我不会飞啊。呵呵
发表于 2010-7-19 02:21:16 | 显示全部楼层
你已经飞起来了。因为你是“飞行的牛”简称“飞牛”。{:4_83:}
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:27:35 | 显示全部楼层
忽悠八你同学,你说的是这个不是咯?
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:28:27 | 显示全部楼层


一只飞行的奶牛。
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:30:57 | 显示全部楼层
OK,我们继续学习哦。呵呵
 楼主| 发表于 2010-7-19 02:42:21 | 显示全部楼层
“电子产品在应用时,往往由于各种偶然原因而失效。所谓失效,即产品失去规定的功能。”
以下个人理解:
“失效”就是失去了产品规定的功能,通俗的讲呢就是已经“坏”了。比方说吧,收音机没有声了,电视机没有图像了,等等。
那么为什么产品会失效呢?是因为买到了假冒伪劣产品了吗?当然这也是产品失效的重要原因之一。即本来就是不合格或基本失效的产品,你还能指望它正常运行?呵呵
我们知道,决定一件事最终结果的原因有“内因”和“外因”两个方面。比方说一个场效应管它在出厂的时候各个方面的指标都是合格的没有问题的,但是它在使用中却损坏了。假设是由于使用不当造成的损坏,那么这个失效的原因就不是“内因”而是“外因”了。
 楼主| 发表于 2010-7-19 03:02:09 | 显示全部楼层
以下个人观点,仅供参考:
大家知道,电子产品的失效往往具有隐蔽性和瞬时性。
电子产品的失效不同于机械产品的失效。比方说,一个机械齿轮由于磨损或其它原因造成失效,是可以由肉眼看出来的。或者我们通过简单测量齿轮的磨耗,不合格的更换一个就可以了。也就是说一般的机械产品的失效是长时间积累的结果,是可以预料的。而电子产品就不同了。比方说一台收音机你打开它的后盖,可以看到里面密密麻麻的元器件以及导线,它在正常工作的时候你是看不出来什么的,因为电流、电压等都是不可以直觉的。现在收音机突然没有声音了,你也不能直观的看出来是哪一个元器件出故障了,这个就是电子产品失效的隐蔽性。电子产品失效的“瞬时性”也好理解。比方说一个灯泡的失效往往是在很短的时间内发生的。灯泡本来是正常亮着的,突然一下子就熄灭了,经过检测发现灯丝已经烧断了。手机本来好好的,突然就打不出电话了。诸如此类的例子还有很多,都说明了电子产品失效存在隐蔽性(不可以直觉或预料)和瞬时性(由正常到失效只是经历很短暂的时间)。
 楼主| 发表于 2010-7-19 03:25:25 | 显示全部楼层
微电子器件与电路失效的一般规律性:
1)早期失效期
其特点是失效发生在器件使用的初期,失效率较高。且随工作时间的增加而迅速下降。
早期失效的原因大多是由于器件本身存在缺陷所造成。
2)偶然失效期
其特点是失效率低、稳定,近似为常数。这个阶段中所发生的失效往往带有偶然性。如电浪涌使器件开路而失效等。
3)损耗失效期
其特点是失效率明显上升,大部分器件相继失效,一般出现在产品使用的后期。损耗失效是由于磨损、老化、疲劳等原因引起器件性能恶化所造成的。
以上摘自《微电子器件与电路可靠性》 张安康 编著
 楼主| 发表于 2010-7-19 03:41:13 | 显示全部楼层
以下个人观点,仅供参考:
OK,我们来分析一下上述的失效的一般性。
第一种失效是由于器件的缺陷造成的。也就是说器件本身就不合格喽。呵呵
当然这种不合格也不能一概论之。比方说器件设计的工作温度是100摄氏度,你非要把它放到150摄氏度的工作环境中,它失效了也是正常的。呵呵
第二种失效不是由于器件本身不合格而是由于电压或电流的状态超过了器件所能容忍的极限。比方说过流造成发热烧毁、过压造成击穿损坏等。
第三种失效情况通俗的讲就是“老了”不中用喽。呵呵
比如一个三级管在正常工况时设计使用寿命为50年。在这个比较漫长的50年中它的穿透电流Iceo是按照某种规律变化的。假如在开始的45年中Iceo的增大量很小可以忽略不计,这个时候器件是正常的。在最后的5年中,特别是最后的1年(达到使用期限)穿透电流Iceo急剧增大,器件的稳定性急剧下降,已经不能完成规定的任务,即可以“寿终正寝”了。
发表于 2010-7-19 03:46:27 | 显示全部楼层
请王八版主继续忽悠吧,我困了睡觉觉去也。
 楼主| 发表于 2010-7-19 03:49:19 | 显示全部楼层
唉,猿阿猿为何不在陪陪俺了么
 楼主| 发表于 2010-7-19 03:50:55 | 显示全部楼层
OK,我们继续忽悠哦。
 楼主| 发表于 2010-7-19 04:03:52 | 显示全部楼层
大家好!这里是“850XX”!欢迎大家一起学习、一起进步!
OY、OK、OL
 楼主| 发表于 2010-7-19 04:04:44 | 显示全部楼层
下面呢我们在来了解一下“可靠性实验”。
 楼主| 发表于 2010-7-19 04:07:37 | 显示全部楼层
《陋室铭》

山不在高,
有仙则名。
水不在深,
有龙则灵。
斯是陋室,
惟吾德馨。
苔痕上阶绿,
草色入帘青。
谈笑有鸿儒,
往来无白丁。
可以调素琴,
阅金经。
无丝竹之乱耳
无案牍之劳形。
南阳诸葛庐,
西蜀子云亭。
孔子云:“何陋之有?”

唐  刘禹锡
http://v.youku.com/v_show/id_XMjQ1MjE0MzI=.html
 楼主| 发表于 2010-7-19 04:16:10 | 显示全部楼层
呵呵,好诗、好文,好意境!
 楼主| 发表于 2010-7-19 04:16:55 | 显示全部楼层
OK,我们继续学习。
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