使用过采样提高STM32F101xx和STM32F103xx的ADC分辨率

发布时间：2009-11-26 17:42 发布者：诸葛孔明

关键词： ADC , 采样 , 分辨率

中等容量和大容量的STM32F101xx和STM32F103xx基于Cortex™-M3的微控制器拥有采样频率为1M/s和12位分辨率的多个ADC模块，这样的分辨率可以满足多数应用的需要，但在某些要求高精度的应用场合，对输入信好使用过采样的技术，可以节省外部器件的使用，减低功耗和成本。

文中给出了2种提高ADC分辨率的方法，它们都是基于同样的原理：以最大1MHz的速率对输入信号进行多次采样，在通过取平均的方式提高分辨率。

文中讨论的方法和固件适用于所有中等容量和大容量的STM32F10xxx产品。在本文的后面还介绍了一些特殊的技巧，这些技巧是专门针对中等容量和大容量的STM32F103xx，和大容量STM32F101xx的特点。

应用笔记分为2个部分，第1部分介绍了如何使用过采样提高ADC的分辨率，第2部分是不同方法的实现指南，并且给出了在STM32F101xx和STM32F103xx产品上实现这些方法的流程图。