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测试测量文章列表

On Semi A5191HRT单片现场仪表HART解决方案

On Semi公司的A5191HRT是用于可寻址远程传感器高速通道(HART)现场仪表的单片CMOS调制解调器,只需外接几个元件就可组成HART物理层所需的所有功能,包括调制,解调,接收滤波,载波检测和发送信号整形 ...
2012年07月04日 10:36   |  
A5191HR   HAR   On Semi   仪表  
PXI/PXI Express系统散热设计秘诀之窥探

PXI/PXI Express系统散热设计秘诀之窥探

作者:凌华科技量测与自动化产品事业处 产品经理 吴嘉和 前言 PXI/PXIe系统是追求稳定度与严苛环境的量测与自动化测试系统的最佳平台。系统散热的设计,对于系统的稳定度扮演重要的角色, ...
2012年07月04日 10:04   |  
PXI   机箱   散热  
激光二极管模组测试(一)

激光二极管模组测试(一)

激光阈值电流测试 阈值电流是激光二极管开始发射激光时的点电流。标定阈值的一种方法是二阶导数法。这种方法中,阈值电流定义为输出光强度曲线对电流二阶导数的第一个最大值,基于光强度测量结 ...
2012年07月03日 13:54   |  
激光二极管  
单片机与FPGA在信号测试中的重要作用解析方案

单片机与FPGA在信号测试中的重要作用解析方案

1 引言 在学习《电子线路》、《信号处理》等电子类课程时,高校学生只是从理论上理解真正的信号特征。不能真正了解或观察测试某些信号。而幅频特性和相频特性是信号最基本的特征.这里提出了 ...
2012年07月03日 10:07   |  
频率特性   信号测试  

2602型源表进行LIV测试扫描

正向电压测试 正向电压(VF)测试对激光二极管的正向直流特性进行校验,测量时扫描电流IF,测量激光二极管上的电压降。 一些大功率激光二极管可能要求电流扫描范围达到2~3A,步长一般在1mA。更 ...
2012年07月02日 18:26   |  
IT   测试   电压   吉时利  
直流测试中,激光二极管或VCSEL模组的关键技术参数

直流测试中,激光二极管或VCSEL模组的关键技术参数

在直流测试中,激光二极管或VCSEL模组的关键技术参数如下: •激光二极管正向压降 • 拐点测试/线性度测试(dL/dI) • 阈值电流 •背光探测二极管反向偏置电压 • ...
2012年06月29日 15:55   |  
VCSEL   直流测试   激光二极管  
采用2602型源表进行高吞吐量激光二极管模组和VCSEL直流生产测试

采用2602型源表进行高吞吐量激光二极管模组和VCSEL直流生产测试

激光二极管(Laser diode,LD)和垂直腔面发射激光器(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,VCSEL)在光通信、光谱学和其他许多重要应用中是两种主要的元器件。随着对上述应用的需求的增长 ...
2012年06月28日 17:31   |  
激光二极管   2602   VCSEL  

“分立电阻器检定测试系统”——设备清单及替代解决方案

设备清单 为了装配连续进给电阻器检定测试系统并运行示例程序,需要以下设备: 1. 吉时利2400型数字源表 2. PC机,含KPCI-488A接口卡 3. 电阻器分拣机以及测试夹具 4. 吉时利7 ...
2012年06月27日 14:58   |  
电阻器  

分立电阻器检定测试系统——示例程序

示例程序 吉时利公司已经开发出能够对10个1MΩ电阻器进行电压系数测试和公差带测试的示例程序。在这个程序中,电压系数测试首先运行,使用100V和200V的测试电压。限制电流设置为10mA, ...
2012年06月26日 15:07   |  
分立电阻器  
使用示波器进行功率测量必须知道的 7 大秘诀

使用示波器进行功率测量必须知道的 7 大秘诀

第 1 个秘诀:通过计算平均值提高测量分辨率 在某些功率测量应用中,您需要测量大动态范围的值,同时还需要细致地调整分辨率,以测量参数的微小变化。除了使用高分辨率数字转换器之外,您也 ...
2012年06月26日 11:46   |  
功率测量   秘诀   示波器  
分立电阻器检定测试系统的常见误差来源——热电动势及漏电流

分立电阻器检定测试系统的常见误差来源——热电动势及漏电流

热电动势 当电路中的不同金属处于不同温度时,会形成热电动势(EMF)或电压。为了消除这些不必要的电压带来的影响,使用偏置补偿电阻测量方法。通常,这个方法在指定的电流源值测量电阻,然后 ...
2012年06月25日 16:00   |  
分立电阻器  
PXI规范概览与最新发展

PXI规范概览与最新发展

NI大中华区市场总监 朱君 纵观整个自动化测试领域,我们可以看到一些明显的趋势:从设计到生产的每个阶段,不断提高的信号速率要求测试设备紧跟高速信号的测试要求;单一待测设备往往集成了 ...
2012年06月21日 11:11   |  
PXI  

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