浅谈锁相环电路的模拟锁定检测问题

发布时间:2016-1-21 10:56    发布者:designapp
关键词: 锁相环
本文介绍了浅谈锁相环电路的模拟锁定检测问题
  
1.PLL锁定有那些检测方法,它们特点是什么?
  
一种是最为简单的数字检测,它利用输入参考的分频信号与VCO反馈的分频信号,在PFD里鉴相的结果,通过连续结果时钟周期检测到鉴相的脉宽小于某值,作为锁定的有效判决规则。这种检测方式,判决方式简单,判断的结果只有锁定和非锁定两种情况。
  
另一种方式是模拟锁定检测,也称为N沟道漏级开路检测,它的实现原则是通过对于PFD输出的超前和滞后脉冲做XOR操作,直接将得出的结果输出。由于XOR的结果有是一串高低的脉冲,所以需要外部电路作滤波处理才能得到一个电平值,而且由于是漏级开路逻辑,所以需要在输出上接上拉电阻。这种检测方式设计起来比较麻烦,需要仔细的计算滤波电容,以及上拉和串接电容,但是这种检测方式有很多独特的特点,是数字检测所代替不了的。
  
2.既然数字检测比较简单,为什么还用模拟检测?
  
数字检测在一些非常常规应用中,应用比较好。但是当遇到,参考丢失,驱动精准的VCXO,高鉴相频率等情况时,往往失去了它的简单优势,使得检测变得十分的不可靠。
  
由于数字检测是采用输入的参考时钟,对于鉴相结果进行处理,得出判决结果的,一旦参考丢失,将无法判决鉴相的结果,从而出现参考丢失任然不报失锁的情况。
  
当驱动的比较精准的VCXO时,由于VCXO的分频后的频率值与参考分频后频率值非常的接近,所以鉴相结果误差太小,有些锁相环判决的精度没有那么高,造成即使不锁定,仍然报失锁的情况。
  
当鉴相的频率很高时,鉴相的窄脉冲,无法被检测时钟正确检测,造成虚报锁定。而模拟检测克服上述问题。
本文地址:https://www.eechina.com/thread-160232-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

  • Microchip视频专区
  • 基于CEC1712实现的处理器SPI FLASH固件安全弹性方案培训教程
  • PIC18-Q71系列MCU概述
  • 想要避免发生灾难,就用MPLAB® SiC电源仿真器!
  • 了解一下Microchip强大的PIC18-Q24 MCU系列
  • 贸泽电子(Mouser)专区

相关在线工具

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表