TI发布32位ADC，实现同类产品中最佳性能和特性

发布时间：2015-7-29 13:31 发布者：eechina

关键词： ADC , 模数转换

全新ADC为可编程逻辑控制器、工业自动化和传感器测量应用提供高精度、低噪声和高集成度

德州仪器 (TI) 推出了一对32位增量-累加模数转换器 (ADC)，这两款器件将高分辨率、低噪声和集成故障检测组合在一起，这成功解决了过去在器件评估和选型时，所需的性能和特性无法兼得的问题。此外，ADS1262和ADS1263具备高集成度且传感器即时可用，还免除了那些会增加系统成本、降低噪声和漂移性能的外部组件。如需了解更多信息，敬请访问 www.ti.com.cn/ads1262-pr。

目前，系统设计人员如果需要用到高分辨率ADC，则必须在其它所需的技术规格方面做出让步，诸如低噪声或低漂移，以及其它几个集成特性。ADS1262和ADS1263通过提供32位分辨率，连同集成、故障检测特性，以及快速数据速率和宽温度范围，最终解决了这些问题，从而帮助设计人员可以最大限度地提升可编程逻辑控制器 (PLC)、工业自动化设备以及传感器测量应用的性能。

ADS1262和ADS1263的主要特点和优势

准确测量小信号：32位的高分辨率和2.5 SPS数据速率下的7 nVRMS可测量小信号，这一点对于典型满量程信号为10mV或者更小的电桥应用是必不可少的。偏移误差漂移也比同类解决方案低80%，从而确保了整个温度范围内的测量稳定性。
降低组件数量来减少系统成本、电路板面积和设计时间：ADS1262集成了一个可编程增益放大器 (PGA)、2.5V基准、振荡器、电平移位器、温度传感器、双激励电流源 (IDAC) 以及8个通用输入/输出 (GPIO) 引脚。ADS1263在需要并行主通道转换、传感器温度补偿或传感器诊断的系统中增加了一个辅助24位增量-累加ADC。
集成监视和诊断：所集成的内部信号链监视、数据误差检测、传感器过载检测等特性以及一个测试数模转换器 (DAC)，可为高可靠性系统提供必须的故障检测和诊断。阅读TI全新的白皮书，了解如何使用ADS1262和ADS1263的集成诊断功能来帮助提高系统可靠性。
快速数据速率：38 kSPS的最大输出数据速率使得ADC可被用在高数据吞吐量工业应用中。
可在恶劣工业环境中使用：-40°C至 +125C的工作温度范围比竞争产品的温度范围要高20°C。

加快设计过程的工具和技术支持

为了加快上市时间，TI提供针对ADS1262和ADS1263的一系列支持工具，其中包括一个针对采用交流电桥励磁的高分辨率、低漂移、精密称重天平的TI Designs参考设计。

ADS1262和ADS1263为系统设计人员提供完整的支持套件，其中包括采样数据、一个输入/输出缓冲器信息规范 (IBIS) 模型、一个在器件配置方面提供辅助的Excel计算器工具，以及性能开发套件 (PDK)。ADS1262EVM-PDK和ADS1263EVM-PDK在TI商店和授权分销商处有售。

加入德州仪器在线支持社区，寻找解决方案，获得帮助，并与同行工程师和TI专家分享知识和解决难题。

用ADS1262和ADS1263等数据转换器开展设计工作的工程师们还可以访问TI的全新数据转换器学习中心，根据不同的主题找到指导性的设计资源，诸如增量-累加ADC基础知识、ADC噪声分析和过滤，以及驱动ADC。

供货情况

日前开始供货的ADS1262及ADS1263均采用9.7mm x 6.4mm薄型小外形尺寸封装 (TSSOP) 。如需了解与TI精密ADC相关的更多信息，敬请访问以下连接：

l 下载ADS1262和ADS1263的数据表。

l 在这篇博客文章中了解PGA输入范围要求。

l 下载白皮书，了解半导体公司如何借助集成诊断来提升系统可靠性。

l 看看这篇博客文章，了解一下增量-累加调制器的基础知识。

l 在全新的数据转换器学习中心中找到按照不同主题进行分类的指导性设计资源。