Vishay推出新款快恢复二极管N沟道高压MOSFET,提高可靠性、降低系统损耗

发布时间:2015-5-22 10:51    发布者:eechina
关键词: 快恢复二极管 , N沟道 , 高压MOSFET
Vishay发布3颗新的600V EF系列快恢复二极管N沟道功率MOSFET---SiHx21N60EF、SiHx47N60EF和SiHx70N60EF。Vishay Siliconix的这三款器件具有低反向恢复电荷和导通电阻,在工业、电信、计算和可再生能源应用中可提高可靠性,并且节能。

150522-MOSFETS-SiHx21N60EF.JPG

今天推出的这些600V快恢复二极管MOSFET采用第二代超级结技术制造,充实了Vishay现有的标准E系列器件,使公司有更多的器件可用于类似移相
全桥和LLC半桥的零电压开关(ZVA)/软开关拓扑。

在这些应用里,SiHx21N60EF、SiHx47N60EF和SiHx70N60EF具有反向恢复电荷(Qrr)比标准MOSFET低十倍的优势,提高了可靠性。这些器件因此能够更快地防止电压击穿,有助于避免直通击穿和热击穿。

21A SiHx21N60EF有四种封装,47A SiHx47N60EF和70A SiHx70N60EF各有两种封装。器件分别具有176mΩ、65mΩ和38mΩ的超低导通电阻和低栅极电荷。这意味着在太阳能逆变器、服务器和通信电源、ATX/Silver box计算机开关电源、焊接设备、UPS、电池充电器和半导体生产设备中的高功率、高频开关应用里,可实现极低的导通和开关损耗。

这些器件能够承受雪崩和换流模式里的高能脉冲,保证通过100%的UIS测试。这些MOSFET符合RoHS,无卤素。

器件规格表:
产品编号VDS (V)ID (A) @ 25 °CRDS(on) (mΩ) @ 10 V (最大值)QG  (nC) @ 10  V (典型值)封装
(最小值)
SiHP21N60EF6002117656TO-220
SiHB21N60EF6002117656TO-263
SiHA21N60EF6002117656Thin lead TO-220F
SiHG21N60EF6002117656TO-247AC
SiHG47N60EF6004765152TO-247AC
SiHW47N60EF6004765152TO-247AD
SiHG70N60EF6007038253TO-247AC
SiHW70N60EF6007038253TO-247AD

新的EF系列MOSFET现可提供样品,将在2015年2季度实现量产,大宗订货的供货周期为十八周到二十周。
本文地址:https://www.eechina.com/thread-149653-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表