使用泰克DMM4020万用表准确地测量纳安培电流
发布时间：2013-11-1 14:15
发布者：eechina
|
在当前电子器件中，测量待机功率或电流泄漏是设计验证和调试过程中的一项常见任务。由于消费者需要电池工作时间更长、能耗效率更高的产品，设计工程师必须认真管理电流泄漏中丢失的能量，这要求准确地进行测量。 器件中通常会设计有待机电流泄漏，这是提供“即时开机”功能的产品、带有一直启动的时钟显示器的消费电子、以及充电器等功率转换设备的副作用。由于能量是功率乘时间，即使待机功率电平低，其在长时间周期内也可能会消耗大量的能量，耗用AC电源电量，耗干电池。准确测量纳安级的低电平泄漏电流，是大多数数字万用表面临的一个挑战。泰克 DMM4020 万用表提供了一块专用电路，可以以1 nA的分辨率测量泄漏电流，解决了这一挑战。 下载： 
使用泰克DMM4020 万用表准确地测量纳安培电流-3MC-24435-0.pdf
(624.03 KB)
|
网友评论