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改善4200-SCS型半导体特征化系统的测试速度与总测试时间
发布时间:2012-3-22 13:41 发布者:
eechina
关键词:
4200-SCS
,
测试时间
,
测试速度
该技术笔记为4200-SCS
半导体
特征化系统的用户提出一些指导与建议,以避免最常见的陷阱、达到更优的测试速度和降低总的测试时间。
下载:
4200_Speed_TN_CN.pdf
(8.16 MB)
2012-3-22 13:40 上传
点击文件名下载附件
本文地址:
https://www.eechina.com/thread-87636-1-1.html
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网友评论
wbsh
发表于
2012-3-22 20:14:28
O(∩_∩)O谢谢
wbsh
发表于
2012-3-22 20:14:33
谢谢
rinllow6
发表于
2012-3-23 13:35:35
谢谢!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
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