电源芯片测试系统助力4644 dcdc电源芯片项目测试

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      电源芯片测试环境
　　测试环境是影响电源芯片测试精准度的因素之一，在测试过程中要尽量将环境干扰降到最低。通常情况下，电源芯片测试需要在以下环境下进行：
　　温度：25±2℃
　　湿度：60%~70%
　　大气压强：86kPa~106kPa

　　4644电源管理芯片测试设备
　　测试电源管理芯片用到的仪器主要有：
　　直流电源
　　电子负载
　　数字万用表
　　示波器
　　随着对电源芯片的性能和质量要求越来越高，自动化测试系统已成为电源管理芯片测试的重要组成部分。在电源芯片自动化测试过程中，除了上述测试设备外，还需要一套自动测试系统，与测试仪器集成在一个测试柜中，完成电源芯片项目的自动化测试。

电源芯片测试系统

　　纳米软件在ATECLOUD测试平台基础上开发了NSAT-2000电源管理芯片测试系统，用于测试4644系列电源管理芯片以及其它电源芯片。该系统可兼容4644系列产品的测试，只需一套系统即可测试，节省了额外开发系统的成本。
　　为了提升测试工作效率，加快电源芯片测试速度，电源芯片测试系统的自动化测试柜支持兼容测试工装，通常由测试公板和子板组成，只需替换测试子板来检测不同规格、型号的电源芯片。

电源管理芯片自动测试柜

　　4644微模块测试项目
　　完整全面检测电源芯片的性能，一般需要测试以下项目：
　　1. 输入电压范围：在测试时改变产品的输入电压，测量产品在设定输入范围内是否正常输出。
　　2. 输出电压范围：在测试时通过改变产品输出端的分压电阻，测量产品是否正常输出。
　　3. 输出纹波：测量直流电压的交流成分和噪声，通过测量其波形的峰峰值，判断产品输出的稳定程度。其峰峰值越小，产品越稳定。
　　4. 电压调整率：检测输入电压变化对输出电压的影响，电压调整率越小说明影响越小，电源芯片性能就越稳定。
　　5. 负载调整率：用来检测负载变化对输出电压的影响，通常性能稳定的电源芯片负载调整率较小。
　　6. 反馈端电压：是测量每路对应的FB引脚电压。
　　7. 欠压关断：在输入电压过低的时候，输出就会停止工作即输出为0，欠压关断就是测量输出端停止工作时的输入电压，称之为关断点。
　　8. 欠压恢复滞后：输入电压从关断点升高至输出恢复正常，此时恢复点和关断点存在压差即为欠压恢复滞后。
　　除此之外，还需要测试输入偏置电流、输出电流、输出电流限制、启动过冲、启动延时、负载跃变电压、效率测试、效率曲线等等。

4644芯片测试项目

　　电源芯片测试是保证电源管理芯片质量和性能的关键环节，在测试过程中要符合相关标准，确保测试的可靠性和准确性。电源管理芯片测试系统详情具体可了解：https://www.namisoft.com/solution/dyglxpcsxt/474.html