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电源芯片测试方法分享:电压调整率的测试条件、测试步骤

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发表于 2024-1-12 16:05:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
关键词: 电源芯片测试 , 电压调整率
  电源芯片电压调整率的测试条件及步骤

  测试环境:
  温度:25±2℃
  湿度:60%~70%
  大气压强:86kPa~106kPa
  测试工具:可调电源、可调电子负载、万用表

  测试步骤:
  1. 设置电子负载,使电源满载输出;
  2. 调节电源芯片输入端可调电源的电压,使输入电压为下限值,记录对应的输出电压U1;
  3. 增大输入电压到额定值,记录对应的输出电压U0;
  4. 调节输入电压为上限值,记录对应的输出电压U2;
  5. 电压调整率={(U- U0)/U0}×100%,其中U为U1 和U2中相对U0变化较大的值。
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  电源芯片自动测试系统的测试优势

  ATECLOUD电源芯片自动测试系统助力客户解放人力,实现高效、快速的自动化测试。系统采取B/S架构,支持互联网和局域网,实现随时随地测试。电源芯片测试系统的测试优势主要体现在:
  1. 灵活使用仪器
  系统对测试仪器进行二次封装,兼容2000+测试仪器型号文字指令,自定义设备指令名称。用户可以任意更换设备完成测试,而且可以充分利用测试设备,自动化测试不用捆绑固定仪器。
  2. 灵活的操作流程
  系统采取无代码编程模式,技术人员不用学习编程也可以完成测试,程序开发和维护不用集中在一个人身上,用户也可以自己开发、测试,统一管理测试方案和数据。同时,用户也可以不用买多套ATE、维护多套ATE,降低成本。
  3. 灵活的数据报告
  系统会将测试指标编码化,支持数据报告导出,用户也可以自定义更改报告模板。
  4. 数据分析具有灵活性
  系统内含数据洞察功能,可以对接MES上传数据,会及时、准确、多维度对测试指标进行自动分析,快速分析数据,查找问题。

  总而言之,用电源芯片自动测试系统测试电压调整率,提高了测试效率,确保测试结果的可靠性。

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