Xilinx FPGA入门连载38：SRAM读写测试之设计概述
发布时间：2015-12-18 12:26
发布者：rousong1989
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Xilinx FPGA入门连载40：SRAM读写测试之设计概述 特权同学，版权所有 配套例程和更多资料下载链接： http://pan.baidu.com/s/1jGjAhEm 
如图所示，本实例每秒钟定时进行一个SRAM地址的读和写操作。读写数据比对后，通过D2 LED状态进行指示。与此同时，也可以通过chipscope pro在ISE中查看当前操作的SRAM读写时序。 
该实例的工程模块划分层次如图所示。 
● Sp6.v是顶层模块，主要完成各个子模块例化、相互接口的互联。 ● Pll_controller.v模块是IP核，例化PLL功能完成时钟的倍频、分频管理。 ● Test_timing.v模块产生SRAM的遍历读写请求，比对写入和读出的SRAM值是否一致，结果赋值给LED指示灯。 ● Chipscope_debug.cdc模块引出设计模块内部信号，在chipscope下可以在线观察SRAM的读写时序。 |
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