测试测量文章列表

查找射频嵌入式系统中的噪声来源

查找射频嵌入式系统中的噪声来源

在把射频芯片或模块集成到典型的嵌入式系统中时,设计人员必须面临的一项常见任务是追踪和消除噪声和杂散信号。潜在的噪声来源包括:开关电源、来自系统其它部分的数字噪声、以及外部噪声来源。 ...
2012年10月12日 11:55   |  
射频   嵌入式系统   噪声  
稳定电源/负载电路的快速瞬态响应

稳定电源/负载电路的快速瞬态响应

吉时利的2300系列电池/充电器仿真器(快速瞬态响应电源)专用于研发和制造环境中RFIC功放、手机及其它便携式电池供电产品的功率估计。这些电池仿真电源能从变化量高达1000%(即负载电流增大10倍 ...
2012年10月11日 14:42   |  
负载电路   稳定电源   瞬态响应  
理解罗姆传感器战略

理解罗姆传感器战略

  传感器战略被罗姆视为未来50年四大战略之一,目前的确也只有罗姆可以将传感器上升至公司的战略——罗姆是业界提供最全传感器种类的公司,同时Kionix与LAPIS都拥有专项领域最强的产品组合。 ...
2012年09月27日 12:34   |  
罗姆   传感器  

应用举例1:IDDQ测试

在此例中,将2000个测试向量发送至必须用恒定2V加电的CMOS IC。此例将使用一个阈值电平,而且1μA及以下的静态电流将被认为是合格电流。无需保存实际的测量值,所以将只检查260X的箝位状态。为 ...
2012年09月27日 11:19   |  
IDDQ  

远距离操作和测试脚本

处理器的使用在进入实际测试实例之前,我们先讨论用于此测试应用的新仪器特性。2600系列源表具有强大的嵌入式计算机或测试脚本处理器,因而能实现在堆架式仪器中从未见过的功能。可以将完整的测 ...
2012年09月26日 13:31   |  
测试   it   吉时利   测量  
CMOS IC的IDDQ测试

CMOS IC的IDDQ测试

测试介绍此测试涉及在输入端处于VDD或VSS并且输出端未连接时,测量CMOS IC的VDD电源耗电流。图1是一个CMOS反相器的测试设置框图。在这个例子中,2601/2602用于源电压(VDD)并测量产生的静态电 ...
2012年09月25日 13:37   |  
CMOS   IDDQ  

用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试

CMOS集成电路(CMOS IC)和电池供电产品的制造商需要测量静态(或“待机”)电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处 ...
2012年09月24日 14:43   |  
数字源表   2600   IDDQ  
NI PXI结合FPGA实现最佳WLAN测量,支持802.11ac

NI PXI结合FPGA实现最佳WLAN测量,支持802.11ac

概述 在下一代无线局域网白皮书中已经讨论了最新的802.11标准存在的一些问题。众所周知,测试工程师都想尽快找到测试该标准的测试设备。大多数测试工程师发现使用最佳性能的昂贵盒式仪器的传 ...
2012年09月24日 14:16   |  
PXI   FPGA   WLAN  
吉时利三款最新型2600B系列数字源表

吉时利三款最新型2600B系列数字源表

——为台式应用而优化拓展数字源表(SourceMeter®)源测量单元(SMU)系列产品2600B系列数字源表提供的崭新特性将有效提高从研发到量产测试的效率 美国俄亥俄州克里夫兰,2012年09月17日讯-- ...
2012年09月21日 14:14   |  
2600B   数字源表  
吉时利推出经济型、可编程的5位半数字多用表(DMM)拓展数字多用表系列产品

吉时利推出经济型、可编程的5位半数字多用表(DMM)拓展数字多用表系列产品

这款5位半数字多用表(DMM)具备6位半数字多用表(DMM)的测量能力,而且性价比更高 美国俄亥俄州克里夫兰,2012年09月17日讯--吉时利仪器公司,作为先进电性测试仪器与系统的行业领导者,在数字多 ...
2012年09月20日 12:03   |  
DMM   数字多用表  
基于高吞吐率WLR测试的 ACS集成测试系统(二)

基于高吞吐率WLR测试的 ACS集成测试系统(二)

多器件TDDB和NBTI 图4示出了多器件TDDB测试结构的共用 SMU和SMU-per-pin配置。在开关(共用SMU) 情况下,SMU1提供连续应力至测试序列的全 部结构,SMU2顺序测量每个器件。在顺序分 析结构的过 ...
2012年09月19日 15:51   |  
ACS   WLR  
测压系统信号的设计与仿真

测压系统信号的设计与仿真

引言20世纪80年代初期,随着微电子技术的发展,国外报道了利用存储器芯片作为信息载体的数字存储测试仪。20世纪90年代,传感器与微型电子记录仪组为一体的存储测试产品在国际上出现。存储测试技 ...
2012年09月19日 11:26   |  
测压系统信号   设计   仿真  

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