多器件TDDB和NBTI 图4示出了多器件TDDB测试结构的共用 SMU和SMU-per-pin配置。在开关（共用SMU） 情况下，SMU1提供连续应力至测试序列的全 部结构，SMU2顺序测量每个器件。在顺序分 析结构的过 ...
引言20世纪80年代初期，随着微电子技术的发展，国外报道了利用存储器芯片作为信息载体的数字存储测试仪。20世纪90年代，传感器与微型电子记录仪组为一体的存储测试产品在国际上出现。存储测试技 ...
图1. 采用SMU-per-pin（每管脚SMU）架构的ACS集成 测试系统举例 引言 随着器件继续小型化，半导体器件可 靠性测试以及器件寿命预测面临极大挑战。由于新材料和新工艺的复杂性增大，器件 失效 ...
曹志锋，王小华，程欢 来源：微型机与应用2012年第14期
摘 要： 介绍了DDS的发展历史及其两种实现方法的特点，论述了DDS的基本原理，并提出一种基于FPGA的DDS信号发生器的设计方法，使DDS ...
直接将ACS安装至4200-SCS的嵌入式PC中能让功能强大 的ACS集成测试系统兼有两者优点。小尺寸但功能强大的 4200-SCS测量硬件结合了ACS软件的全自动化特性，能在极小的封装中实现令人印象深刻的测 ...
系统架构 最容易想到的多站点测试仪是迷你测 试仪系统。每台迷你测试仪包含了在一个站点上运行一系列测试所需的全部资源。 图3示出了两台迷你测试仪组成的系统。每台迷你测试仪含有几个模拟源- ...
图1. 此例中的ACS集成测试系统配置为并行、多站点 测试，非常适于这些应用： • 多站点参数管芯分选 • 多站点晶圆级可靠性测试 • 多站点小规模模拟功能测试 行业面临的挑战 ...
仅监测ID的OTF方法 一种常用的OTF方法是仅监测漏极电流。这种方法在漏极施加小偏压（通常为25～100mV）并连续进行漏极电 流测量，如图1所示。在此方法中，连续的采样速率非常 关键。用2600系列 ...
作者: Allen Cutler - Korry Electronics
挑战: 开发CAN总线测试系统，与智能化航空电子设备的控制面板进行交互、显示开关状态、控制面板的点亮功能，同时报告面板的状态数据，如部件编号和 ...
作者:
Terry Stratoudakis, P.E. - ALE System Integration
Lawrence M. David Jr - ALE System Integration
挑战: 开发多功能小型化的测试系统，以模拟军用飞行器的机载通信，并对通信 ...
引言 在微缩CMOS和精密模拟CMOS技术中对偏压温度不稳定性——负偏压温度不稳定性（NBTI）和正偏压温 度不稳定性（PBTI）——监测和控制的需求不断增加。 当前NBTI1 的JEDEC标准将“测量间歇期的 ...
Chris Loberg
串行数据标准数量不断激增，明显改善了PC、服务器系统的性能。对这些更高速的标准执行测试，找到抖动迹象对设计的长期稳定性及实现优秀的误码率(BER)目标至关重要。要进行高效 ...
