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日本日置 IM3536 LCR测试仪技术参数；
| LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） | | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流 电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε | | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） | | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 | | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） | | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) | | [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定 | | 发生范围：DC 电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) | | 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω | | | | 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 | | EXT I/O (处理器), / USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 | | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max | | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg | | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 |
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发表于 2020-6-8 17:32:36
