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[提问] 集成电路检测方法

发表于 2011-3-22 15:05:58 | 显示全部楼层

范围太宽了。针对一种架构就是一套方案，51系列说是一种指令集，可是有12T，6T，3T，2T，1T的，架构已经不一样了，反应时序不同。
另外，目标是什么？已知芯片测好坏？还是未知芯片测型号？
其实，测试单片芯片，就是黑匣子测试，看是否符合某个标准模式。