查看: 3873|回复: 5

[提问] 集成电路检测方法

[复制链接]
发表于 2011-2-23 12:28:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
5积分
各位长老想问问集成电路的检测方法!!!
还望赐教

发表于 2011-2-24 11:35:04 | 显示全部楼层
这个问题好大!先上网搜索一下常规芯片(如74系列)的检测方法再说吧。至于模拟芯片、MCU等,那方法可是千差万别的呀!
 楼主| 发表于 2011-2-24 12:48:51 | 显示全部楼层
单片机芯片:如ATMEGA系列,51系列
发表于 2011-2-26 19:43:07 | 显示全部楼层
也太大了吧!!!
发表于 2011-3-22 15:05:58 | 显示全部楼层
范围太宽了。针对一种架构就是一套方案,51系列说是一种指令集,可是有12T,6T,3T,2T,1T的,架构已经不一样了,反应时序不同。
另外,目标是什么?已知芯片测好坏?还是未知芯片测型号?
其实,测试单片芯片,就是黑匣子测试,看是否符合某个标准模式。
发表于 2011-3-24 08:59:47 | 显示全部楼层
我想大多数的芯片的正确与否都是根据是否能执行正确的逻辑来定义的,检测恐怕也是要依据这个。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表