系统设计文章列表

作者：Ron Press，明导 对于许多现有的和未来的集成芯片器件来说，一项主要挑战就是如何为庞大数量的设计创建测试图案。对于有百万门甚至数亿门的设计，传统上等到设计完成再创建测试图案的 ...

作者：明导高级物理验证方法项目经理David Abercrombie 曾经，我花了大量时间谈论双重图案微影技术。我认为是时候开始展望多重图案微影的发展前景了（不要惊慌！）。正如您可能听过或者读过 ...

作者：Maxim应用工程师Bill Laumeister 对一个复杂的设备进行故障诊断的时候，知识储备是最重要的。我们想要并且需要去了解相关的一些问题。它包括正确的IC版本号，在哪里可以找到有关的参考 ...

Ron Wilson，总编辑，Altera公司 对基于SoC系统设计正确方法的争论非常激烈。是传统的寄存器传送级(RTL)流程?还是C语言行为模型的高级综合?减少了代码生成的知识产权(IP)重用方法又怎样呢? ...

当你坐在计算机旁工作或在网上冲浪，当你打开电视机欣赏节目，当你在川流不息的人群中拿起无绳电话，当你的VCD或DVD正在播放惊心动魄的hoolywood 电影. ......你可知道在这些和我们的生活和工作 ...

NI公司供稿 虽然NI LabVIEW软件长期以来一直帮助工程师和科学家们快速开发功能测量和控制应用，但不是所有的新用户都会遵循LabVIEW编程的最佳方法。 LabVIEW图形化编程比较独特，因为只需看 ...

作者：Omar Mussa,程序架构师和专业服务经理, NI联盟伙伴JKI 　　 Justin Goeres,程序架构师和产品市场经理, NI联盟伙伴JKI 成为LabVIEW漏洞修复高手 如果您经常使用NI LabVIEW软件， ...

摘要：对于28纳米及以下节点，选择和放置多种过孔类型的复杂要求对LEF/技术文件的绕线构成了挑战，导致设计规则检查 (DRC) 错误增多（需要耗费时间来调试和改正），最终影响了良率和性能。 ...

作者： David Karpaty 简介 放大器的仿真模型通常是利用电阻、电容、晶体管、二极管、独立和非独立的信号源以及其它模拟元件来实现的。一种替代方法是使用放大器行为的二阶近似（拉普拉斯 ...

作者: Arjun Pal Chowdhury,Neha Agarwal 随着数字化设计和SoC的日益复杂，复位架构也变得非常复杂。在实施如此复杂的架构时，设计人员往往会犯一些低级错误，这些错误可能会导致亚稳态、干 ...

作者: Farzad Zarrinfar 在传统的大规模ASIC和SoC设计中，芯片的物理空间大致可分为用于新的定制逻辑、用于可复用逻辑(第三方IP或传统的内部IP)和用于嵌入式存储三部分。 当各厂商为芯片 ...

作者：明导公司 Matthew Hogan 集成电路可靠性——新兴的竞争因素 可靠性验证正获得越来越多的关注。器件和导体愈加小巧，器件氧化层越来越薄，电源域的数量快速增长。数字内容的显著增加 ...