研讨会介绍

随着无线标准的不断演进，特别是伴随着5G与物联网时代的到来，无线产品的射频测试面临着测试复杂性与成本的双重挑战。NI使用以软件为中心的PXI模块化射频仪器应用架构，基于平台化开发的技术思想，使用现成可用的模块化射频与中频仪器，通过LabVIEW软件和丰富的射频与无线工具包以及射频电路设计软件，工程师可以快速实现射频与无线应用设计，开发以及测试的全部流程。在本次研讨会中，NI射频产品经理姚远先生将为您介绍基于NI平台能够实现多种射频应用，并将与您分享多个业界领先的成功案例，欢迎您参与讨论。

演讲人介绍

姚远（市场开发经理）
姚远先生目前担任美国国家仪器中国地区市场开发经理，负责NI射频与无线通信产品及方案在本地市场的推广与合作等工作。此前，姚远先生曾在NI公司担任应用工程师，系统工程师，技术市场工程师等职务，在测试测量与自动化领域具有多年的系统开发及行业经验。姚远先生毕业于上海交通大学，获硕士学位。

参会奖品

本场研讨会抽奖奖品：车载充电器（10个），16G U盘（20个）

答疑专家

曹行（资深应用工程师）
曹行先生毕业于东南大学，毫米波国家重点实验室，获微波射频专业硕士学位，现担任NI中国资深应用工程师。负责NI产品的技术支持，行业技术研讨会，客户培训以及大型项目技术支持工作。精通VST，FlexRIO，USRP-RIO等软件无线电领域产品及5G相关应用，拥有丰富的射频项目支持、咨询与开发经验。

孙平山（资深应用工程师）
孙平山先生毕业于南京东南大学信号与信息处理专业，获取硕士学位，现任NI中国资深应用工程师职位。负责现场技术支持、大型项目开发等，对RFID，软件无线电等领域有较深的理解，熟练掌握VST、FlexRIO、以及例如5641R等中频板卡。