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利用大功率数字源表构建多源测量单元(SMU)系统(连载一):选择满足测试要求的设备

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发布时间: 2012-5-2 15:13

正文摘要:

简介利用高压、大电流源测量单元(SMU)来设计和构建功率半导体器件直流特性分析测试系统包括以下几个步骤:• 选择满足测试要求的设备• 选择连接待测器件(DUT)与仪器的电缆和夹具 • 检查系统安全和仪 ...

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bbseechina 发表于 2012-8-12 20:42:33
以前,大多数功率半导体制造商为了测试不得不对器件进行封装,因为当时对晶片上器件施加数十或数千伏电压的技术尚未广泛使用。现在科技的进步,许多电子测试仪器像福禄克公司解决方案的应用使得诸多制造商可以对晶片上器件进行测试,从而降低了测试成本。
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