数字源表测试半导体器件I-V特性的必要性

半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。 直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，除此以外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。分立器件 I-V 特性测试的主要目的是通过实验，帮助工程师提取半导体器件的基本 I-V 特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。随着器件几何尺寸的减小，半导体器件特性测试对测试系统的要求越来越高。通常这些器件的接触电极尺寸只有微米量级，这些对低噪声源表，探针台和显微镜性能都提出了更高的要求。普赛斯仪表自主研发的高精度数字源表，填补国产空白，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

普赛斯源表功能：精确提供四象限电压或电流，并同步测量电流和电压；可以实现电源、万用表、电子负载、电源/测量组合功能；

用途：精确提供和测量电压和/或电流，广泛应用于各种电器特性参数测试中，如IV扫描；

普赛斯源表优势：四象限工作，源和负载；电压及电流范围广，电流100pA~1A，电压0.3mV~300V，准确度为0.1%；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；

额外功能（软件实现的）：二极管IV扫描及参数分析、三极管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等；

普赛斯源表应用领域：分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等；能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等；传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等；

普赛斯源表应用方案：二极管IV测试、激光二极管LIV测试、三极管MOS管IV测试、APD管IV测试、太阳能电池板特性参数测试、电池充放电特性参数测试、电化学循环伏安测试；

普赛斯源表替代方案：吉时利2400、是德B2901