纳米器件的脉冲测试

发布时间：2011-3-8 11:55 发布者：嵌入式公社

纳米技术研究已深入到原子挨原子的分子级，构造具有全新特性的新结构。特别地，纳米电子领域的发展十分迅速，其潜在影响涉及非常宽
的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米管、半导体纳米线、阿分子有机电子和单电子器件。

不过，由于多方面的原因，这些微小器件无法采用标准的测试技术进行测试。其中一个主要原因在于这类器件的物理尺寸。某些新型“超CMOS”器件的纳米级尺寸很小，很容易受到测量过程使用的甚至很小电流的损坏。此外，传统直流测试技术也不总是能够揭示器件实际工作的情况。因此，设计者需要新的测试技术和测试工具。其中一种技术就是脉冲测试，它对于新一代纳米电子器件的研究是必需的。

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