爱德万测试推出全球首发的最新 PCIe Gen 4 固态驱动器的整体测试解决方案

发布时间:2018年08月16日 14:08    作者:eechina
关键词: 硬盘测试 , MPT3000
MPT3000系 统 的最新扩展能力可以使固态驱动器制造商更快地将他 们的产品推向市 场

爱德万测试推出了业界第一个完全集成的固态硬盘测试解决方案,该方案可以用于开发、调试以及量产 PCIe Gen 4 固态驱动器(SSD),并且 MPT3000 平台也可以同时兼容 PCIe Gen 3、SATA 和 SAS 等协议的固态硬盘的测试开发以及量产。这套全方位的新的测试解决方案可以使 SSD 制造商加快其新产品上市的时间。

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MPT3000 平台现在可以覆盖 PCIe Gen 4 设备的所有测试需求——从支持工程使用的 MPT3000ES,到支持可靠性验证测试(RDT)的 MPT3000ENV,再到支持量产的 MPT3000HVM,用户可以在 MPT3000 上直接开发 PCIE Gen4,而不用等待第三方厂商提供测试方案。它向用户提供一套从设计到制造的测试流程,并使用与爱德万测试已经投入市场的 PCIe Gen 3 解决方案相同的测试架构和软件,从而简化了向下一代产品升级的过程。这一整体解决方案为 SSD 制造商提供了市场最快、风险最低的路径。

爱德万测试系统级测试副总裁 Colin Ritchie 提到:“为了解决各种各样的固态硬盘协议和形式因素问题,我们提供了模块化的MPT3000 平台,可以验证和测试最新一代的 PCIe 存储器。在这种高度灵活的测试系统中,每一个 DUT(待测器件)独立测试架构和硬件加速使它成为一个单一的系统解决方案,可用于几乎所有的工程、批量生产和 BIST(内置的自测试)应用程序。”

MPT3000 PCIe Gen 4 产品现已上市,并开始出货。
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