NI半导体测试系统（STS）
发布时间：2018-7-27 11:37
发布者：eechina
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半导体测试系统（STS）系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计，把产品的所有关键测试资源整合在仪器，这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间，降低了功耗，减轻了传统ATE测试员的维护负担，从而节约了测试成本。此外，STS采用开放的、模块化的设计，使您可以利用最新的工业标准的PXI模块，获得更多的仪器资源和更强大的计算能力。 资料下载： 
NI半导体测试系统STS_Flyer_CN.pdf
(1.14 MB)
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