测试系统构建完整指南:硬件和测量抽象层

发布时间:2017-3-24 15:56    发布者:eechina
关键词: 测试系统 , 智能测试 , PXI
测试系统构建完整指南系列之一,硬件和测量抽象层是有效的设计模式,可使测试软件适应不同的硬件。 与测试序列采用针对特定设备的代码模块不同,抽象层可将测量类型和针对特定仪器的驱动程序与测试序列分离。 了解如何通过让软硬件工程师并行工作来大幅缩短开发时间。

资料下载: 7Test_System_CompleteGuide_HAL_MAL.pdf (3.1 MB)
本文地址:https://www.eechina.com/thread-358439-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

相关视频

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表