主流DSP存储器测试方法学习指南：TI KeyStone

发布时间：2014-7-23 10:40 发布者：wangjiamin

关键词： DSP , 存储器 , 测试

存储器相关的问题是DSP 应用中非常普遍的问题。本文介绍KeyStone I 系列DSP 上一些存储器测试的方法。

1 KeyStone DSP 存储器系统简介

　　KeyStoneDSP 存储器架构如图1 所示

对不同的DSP，存储器的大小可能不同，DSP 核和EDMA 传输控制器的个数也可能不同。表1比较了KeyStoneI 系列中常用的3颗DSP。

2 存储器测试算法
本文介绍几种存储器测试算法，并讨论这几种算法的用途。

　　2.1 数据测试

　　下面是数据测试的伪代码：

　　for（memory range under test）

　　fill the memory with a value;

　　for（memory range under test）

　　read back the memory andcompare the readback value to the written value

　　通常，这个测试会被执行几次，每次填充的值不一样。常用的填充值包括0x55555555，0xAAAAAAAA， 0x33333333， 0xCCCCCCCC， 0x0F0F0F0F，0xF0F0F0F0， 0x00FF00FF，0xFF00FF00FF00， 0xFFFFFFFF， 0。

　　这个测试可以用来检测数据比特粘连（bit-stuck）问题，例如，如果，

　　writtenvalue = 0， readbackvalue = 0x8，

　　表示bit3 粘连到1.

　　如果

　　writtenvalue = 0xFFFFFFFF， readbackvalue = 0xFFFFFFFE，

　　表示bit0 粘连到0.

　　如果能正确的写入并读出0x55555555（或0xAAAAAAAA），说明相邻的两个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x33333333（或0xCCCCCCCC），说明相邻的4 个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x0F0F0F0F（或0xF0F0F0F0），说明相邻的8 个比特没有粘连…

　　这个算法既可以用来测试数据总线连接，也可以用于测试存储器单元。当用于测试存储器单元时则每一个存储单元都需要写读所有的值，这将是比较耗时的测试；而用于测试数据总线连接时，只需要把所有的值都写读一遍就可以了（地址不限）。

........

更多精彩内容请看附件

相关文章