安捷伦推出最新多通道PXI测试解决方案，加速生成和分析LTE/LTE-Advanced 波形
发布时间：2014-7-8 11:27
发布者：eechina
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帮助工程师完善载波聚合和空间多路复用设计 安捷伦科技公司推出 LTE/LTE-Advanced 多通道 PXI测试解决方案。该方案可加速配置多通道测试系统，有助于工程师进一步完善其复杂的载波聚合和空间多路复用 MIMO 设计。 
随着多天线设计需要越来越精密的多通道测试配置，设计和表征用于基站、微蜂窝、微微蜂窝、中继器和移动设备等的元器件和射频子系统变得更加复杂。安捷伦最新测试解决方案能够生成复杂的 LTE/LTE-A 多通道/ MIMO 波形，并能够同时在频域和调制域进行多通道分析。易于使用的图形用户界面可显著缩短测试配置的设置时间。此外，该解决方案还对LTE/LTE-Advanced MIMO 和载波聚合的设置进行了优化。 该解决方案配有机箱背板触发工具，可以配置和发送背板触发，允许两台 PXIe 机箱实现最佳的 MIMO 时间同步。Agilent RF M9381A PXIe 矢量信号发生器搭配 M9391A PXIe 矢量信号分析仪，可以在多通道之间提供小于 0.38% 的 EVM 和小于 20 纳秒的时间同步，由此轻松实现时间同步的 2x2 或 4x4 MIMO 测试。此外，该方案还支持高达 160 MHz 的信号生成和分析带宽，适用于广泛的 LTE-Advanced 载波聚合应用。 如欲了解有关 LTE-A 多通道应用测试解决方案的更多信息，请访问： www.agilent.com/find/solution-LTE ，下载相关文献，或者注册观看 7 月 15 日的免费网上直播“应用最新LTE-Advanced 技术标准应对设计和测试挑战”。浏览产品图片，请访问： www.agilent.com/find/LTE_images 。安捷伦可针对具体的测试环境量身定制参考系统，如欲了解价格信息，请联系安捷伦公司。 |
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