利用吉时利高功率系统数字源表® 源测量单元(SMU)仪器对功率半导体器件进行测试

2013年05月31日 10:05    eechina
关键词: 数字源表 , SMU
电子控制与电子功率转换在各行业(如发电、工业马达驱动与控制、运输及IT) 发展迅速,正推动着功率半导体器件设计与测试的增长。为了证明技术改进,必须对新器件与现有器件能力进行对比。非硅半导体材料的使用需要采用新工艺,而且,为了可持续发展,这些新工艺必须能够交付已知的结果,并具有高产量。随着新器件设计的发展,必须对诸多器件进行更长周期的可靠性测试。因此,测试工程师必须找到具有高精度、可扩展和高费效比的测试设备。

功率模块设计工程师——分布式功率半导体器件用户——正致力于半导体器件测试工作。为了开发DC-DC转换器、逆变器LED控制器、电池管理芯片以及诸多其他器件,他们在设计中采用分立半导体器件。为了实现更高的电源效率,他们必须对来自供应商的器件进行质量检验,确保其符合应用环境的要求,并预测器件对功率模块效率的影响,最后验证最终产品的性能。

吉时利源测量单元(SMU)仪器,可为器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论他们对曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉,都能简单而迅速地得到精确的结果。本应用笔记介绍了某些最常见的测试、相关挑战以及吉时利源测量单元(SMU)仪器怎样简化测量流程,特别是与吉时利参数曲线跟踪仪配置进行集成时。

下载: HiPowerDeviceTest SMUInsrmts_AppNote - CN.pdf (1.07 MB, 下载次数: 10)

欢迎分享本文,转载请保留出处:http://www.eechina.com/thread-115805-1-1.html     【打印本页】
wbsh 发表于 2013-5-31 18:45:19
O(∩_∩)O谢谢
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

相关文章

相关视频演示

厂商推荐

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
回顶部