英国比克科技将于2017年2月27日和2017年3月1日在北京和上海举办中国首届测试测量技术研讨会,倾听您的问题和期待,分享比克科技的技术和方案,消除您的困难和烦恼。无论您是从事电源的设计,还是嵌入式系统的开发;无论您是系统集成工程师,还是汽车电子工程师;无论您是关注低速总线的测试,还是高速信号的分析;也无论您是想了解电子测量的最新动态和发展趋势,还是看看有什么新鲜有趣的东西。这都将是一场您不容错过的技术盛会!
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会议时间:3月1日(周三)下午
会议地点:上海浦东假日酒店 三楼汉厅
关于英国比克科技
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