USB-C带来的问题

当USB-C电路失效时，如何建立安全且可靠的保护机制，减少因为过热而造成使用者受伤或装置损坏。

首先，USB-C可广泛应用在高速数据连接与高功率电源传输，从手机、计算机，到显示器都能看见其身影。USB-C之所以如此受欢迎，日渐普及，在于其灵活设计的不同功能能够满足不同使用者的需求。其4个优势包括：小巧且正反可插的连接；功率高达100W；高速数据；以及交替模式。

USB-C给设计人员带来了独特的挑战，包括0.5毫米针脚间距的紧凑设计；10Gbps的USB 3.1 Gen2；USB-PD高达100W；对不受控制过热污染敏感的风险；以及曾有报道电缆和设备的热损伤（燃烧）。

即使是合格的USB-C线材或装置仍有过热的危险。常见的失效模式包括：人体接触带来的ESD静电放电；热插拔和拔去插头时的浪涌；针脚弯曲和电缆磨损引起的过载电流；棉絮、水、泥土灰尘等一起的连接器污染造成的过热现象。因此，USB-C插头易发生危险的过热问题。

对于USB，常用的测试级别是±8kV接触放电和±15kV空气放电，而USB类型所需的ESD保护是所有USB类型，包括USB Source主端口、USB Sink从端口和USB电缆。TVS二极管阵列可以提供ESD保护。

USB Type-C连接器正在取代所有其他连接器，但脏污容易导致过热故障，而可恢复SMD PTC有助于防止过热。通过采用超低电容最小封装的TVS二极管阵列提供的强大的ESD和耐浪涌解决方案可以有效防止ESD事件，确保最佳的信号完整性。浪拓电子为USB-C提供了各种保护器件和保护类型。