从“扫描”到“洞察”：Hyperlux ID如何赋能下一代机器视觉
发布时间：2026-4-2 19:04
发布者：eechina
|
深度感知是现实机器视觉应用中不可或缺的关键功能。安森美（onsemi）的Hyperlux ID间接飞行时间（iToF）深度传感器，凭借更少、更小、更简单的器件，即可实现高精度深度感知。 现代机器不仅要能够移动，更需自主感知周围环境、识别操作对象，并理解周围的世界。工业组件要实现真正的自动化，其核心在于感知、定位并与世界交互的能力。当这类组件由人工智能（AI）驱动时，就需要深度传感器为处理器提供视觉感知能力。 对机器视觉而言，要实现这种感知级别的识别能力，绝非易事。 当机器执行物体操作或规划前方路径时，其处理器需要在极短时间内获取尽可能多的深度数据点。传统图像传感器会产生大量数字伪影，包括光晕、拖影、过饱和以及运动模糊。这些伪影并非真实的环境信息，如果缺乏深度感知功能及深度数据的有效解析手段，机器的处理器将无法做出准确推断。我们固然可以寄希望于人工智能或机器学习算法，助力机器区分真实场景与虚假干扰。但这里真正需要的是一款性能强大且稳定可靠的深度传感器，从而让机器无需再从不可靠的视觉证据中去推测真实场景。 本白皮书旨在探讨如何为具体应用挑选合适的深度传感器。作为全球领先的半导体器件制造商之一，安森美生产各类传感器设备，包括基于CMOS的图像传感器、超声波传感器、短波红外（SWIR）传感器以及激光雷达。 下载白皮书： 
从扫描到洞察：Hyperlux ID如何赋能下一代机器视觉.pdf
(11.19 MB)
|
网友评论