ASML启动下一代Hyper NA EUV光刻机研发,瞄准5nm单次曝光技术

发布时间:2025-6-30 08:56    发布者:eechina
关键词: ASML , EUV , 光刻机
全球半导体设备巨头ASML近日宣布,已着手研发下一代Hyper NA EUV光刻机,旨在突破现有技术极限,为未来十年的芯片产业提供关键支撑。这一新型光刻机的核心目标是通过单次曝光实现5nm级电路图案分辨率,从而满足2035年及以后的超先进制程需求,特别是在人工智能、高性能计算和量子芯片等前沿领域。

ASML当前最先进的High NA EUV光刻机已实现单次曝光8nm分辨率,支持3nm至5nm制程的大规模量产。然而,随着芯片制造工艺向2nm、1.5nm甚至更小节点迈进,现有技术面临挑战。Hyper NA EUV的关键突破在于数值孔径(NA)的跨越式提升,目标将NA值从目前的0.55进一步提高至0.7甚至更高,预计分辨率较现有技术提升30%-40%。

数值孔径的提升意味着光学系统能收集更广角的光线,从而在晶圆上投射更精细的电路图案。然而,超高NA光学系统的研发面临巨大挑战,包括物镜直径的显著增加、镜面曲率精度的纳米级控制,以及光线折射导致的像差问题。为此,ASML与长期合作伙伴蔡司(Carl Zeiss)展开深度合作,利用后者在高精度光学制造领域的技术积累,共同攻关这一尖端项目。

半导体行业对摩尔定律延续性的焦虑促使ASML加速推进Hyper NA EUV研发。市场预测显示,到2030年,全球2nm以下制程芯片的需求将激增至先进制程市场的30%以上,而现有High NA EUV技术可能很快触及分辨率上限。台积电、三星、英特尔等晶圆巨头均密切关注Hyper NA EUV的进展,该技术有望成为未来芯片制造的关键推动力。

尽管Hyper NA EUV的量产时间尚未最终确定,但ASML的研发步伐已为半导体产业的未来奠定基础。随着物理极限的逼近,光刻技术的每一次突破都将深刻影响全球科技产业的竞争格局。
本文地址:https://www.eechina.com/thread-889548-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

  • Microchip视频专区
  • 利用模拟开发工具生态系统进行安全电路设计
  • 想要避免发生灾难,就用MPLAB SiC电源仿真器!
  • Cortex-M4外设 —— TC&TCC结合事件系统&DMA优化任务培训教程
  • 更佳设计的解决方案——Microchip模拟开发生态系统
  • 贸泽电子(Mouser)专区
关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表