安泰高压放大器在半掩埋光波导谐振腔封装测试中的应用
发布时间:2025-3-27 11:11
发布者:aigtek01
关键词:
高压放大器
实验名称:半掩埋光波导谐振腔的封装测试 研究方向:半掩埋光波导谐振腔耦合完成以后,为保护器件,防止灰尘等杂质污染刻槽区域以及做实验过程中移动器件可能带来的耦合处接口松动,需要对器件进行封装。 测试设备:高压放大器、信号发生器、示波器、光电探测器、窄线宽半导体激光器等。 实验过程: ![]() 图1:半掩埋光波导谐振腔的测试系统图 ![]() 图2:半掩埋光波导谐振腔的测试曲线 图2中黄色曲线为正弦波扫描曲线,紫色曲线为半掩埋光波导谐振腔的谐振曲线。使用示波器的光标工具可以进行谐振曲线半高全宽的测量。图4-8所示为半高全宽处所对应的电压差值,为43.19mV,根据激光器的调谐系数可以计算得出半掩埋光波导谐振腔的半高全宽为64.79MHz。因此,半掩埋光波导谐振腔的品质因子为2.99×106。 高压放大器推荐:ATA-2082 ![]() 图:ATA-2082高压放大器指标参数 |
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