测试向量压缩技术大幅度降低扫描测试成本

发布时间：2010-2-6 22:45 发布者：bakedham

关键词：向量

随着电子工艺技术的日新月异，现在的ASIC电路的规模越来越大，速度越来越快。动辄上百万门的电路使得测试成本在芯片总成本中占有越来越大的比重。如何在保持高测试质量的同时降低测试成本逐渐成为ASIC 成功与否的指标之一。

从ATPG的角度来看，降低测试成本有两个主要方法： 1.降低测试向量总长度；2.使用尽量低端的测试机台完成测试任务。

本文将会就一个投片成功，通过质量测试的芯片为例，分享使用Mentor/TestKompress来降低测试成本的方法。

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