红外热成像仪测温范围

发布时间:2022-11-21 20:14    发布者:agitek2008

红外热成像仪测温范围:

红外热像仪的测量温度范围为-50°C~1000°C。

红外热像仪在工业领域应用广泛,如:冶金行业、电力行业、化工行业、机械加工制造等;在军事领域应用广泛,如:导弹发射架、坦克装甲车及飞机发动机等。

1、红外热成像仪测温原理:

红外辐射能量的大小与物体的温度有关。物体温度越高,其表面辐射的能量越大;反之越小。因此,当被检测对象表面存在温差时(即有温差存在),通过测量辐射能量的强弱就可以知道被检测对象的表面温度的高低了。

2、红外热像仪测温特点:

(1)快速响应:

采用微处理器进行控制处理,具有高速数据采集和处理的功能;实时显示图像并自动分析判断目标位置和大小;可对目标的体温进行实时监测和控制;支持多种通讯协议(RS232/USB/以太网);具有自检功能和故障报警功能等。

(2)高精度:

基于数字信号处理技术设计而成的高性能探测器系统,探测距离远(可达10米),精度高(±0.5°C),抗干扰能力强等优点。

以上就是红外热成像仪测温范围的相关介绍,如您还有其他问题,欢迎登陆安泰测试Agitek:https://www.agitek.cn/hongwairexiangyi/


本文地址:https://www.eechina.com/thread-806080-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

  • Microchip视频专区
  • 利用模拟开发工具生态系统进行安全电路设计
  • 更佳设计的解决方案——Microchip模拟开发生态系统
  • Cortex-M4外设 —— TC&TCC结合事件系统&DMA优化任务培训教程
  • 想要避免发生灾难,就用MPLAB SiC电源仿真器!
  • 贸泽电子(Mouser)专区
关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表