MIPI C/D-PHY点屏测试解决方案

发布时间:2021-9-13 17:21    发布者:reetest
MIPI C/D-PHY点屏测试解决方案
Introspect所开发的一整套完整的MIPI D-PHY/C-PHY LCD/OLED点屏测试设备解决方案,该方案可同时支持单屏或1拖多等屏幕量产测试。
产品特色:
· 同一个硬件能同时支持D-PHYC-PHY
· 支持多通道测试:D-PHY 4 Lanes & C-PHY 4 Trios
· 支持D-PHY 2.5GbpsC-PHY 2.5Gsps
· 支持业界最新的CSI/DSI测试规范
· 支持Dual Port D-PHY & C-PHY
· 具备BTA功能:
-BTA功能可读取屏的接收状态
-用以确认屏的接收是否出现接收异常
-藉由此功能,能达到实时确认屏的接收是否出现异常
-特别适合于高温高湿的环境测试来进行屏的接收状态实时监控

本文地址:https://www.eechina.com/thread-774342-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表