《碳化硅功率半导体器件:特性、测试和应用技术》新书发布

发布时间:2021-6-17 19:58    发布者:eechina
关键词: 碳化硅 , 功率半导体 , SiC
传递开启绿色智能世界之门的钥匙

在第三代半导体材料火热研究的今天,基于科研工作者和工程师对碳化硅器件知识技术的迫切需求,高远倾心编著的新书《碳化硅功率半导体器件:特性、测试和应用技术》于2021年6月由机械工业出版社出版发行,6月底上市。

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高远现任泰科天润半导体科技(北京)有限公司应用测试中心主任,曾在知名电源企业和功率半导体企业从事研发和技术工作。高远致力于功率半导体器件测试、评估与应用技术的研究和推广工作,特别对SiC功率器件有深入研究和深刻认知,精通器件测试设备和测量方法,致力于碳化硅功率器件市场应用推广,被国际领先的测试解决方案供应商泰克科技聘为电源功率器件领域外部专家。

在多年的研究工作中,高远深深地体会到掌握功率器件原理、测量方法与设备、相关应用技术对更好地开展相关研究和提升电源变换器性能具有重要意义,同时还了解到广大科研人员和工程师对了解和掌握最新SiC器件相关知识和技术的迫切需求。本书正是在这种背景下编写的,旨在帮助广大读者深入了解SiC器件的特性和测试方法,明确可能存在的应用技术挑战并掌握应对措施。这样既可以帮助科研工作者快速掌握本领域的最新重要成果,为科研工作提供坚实的基础,还能够帮助广大工程师更好地应用SiC器件,推进行业的发展。

在章节设置、内容选择、表述方式、波形展示等方面做了大量的工作,力求内容条例清晰,通俗易懂,能够切实帮助读者的学习和工作。首先,在进行知识讲解时,注重为读者搭建系统的知识框架,避免“只见树木不见森林”。其次,在SiC器件应用挑战的应对措施的讲解中,不一味追求最新学术研究成果,而是选择能够实际应用的技术,切实解决SiC器件的应用问题。另外,书中使用了大量篇幅对测试设备、测试方法进行了详细的讲解,帮助功率器件和电力电子研究人员和工程师弥补测试技术这一短板。

同时,书中绝大多数波形采用实测结果,对应的分析和结论更加贴近实际应用,可直接用于指导应用设计,避免理论理想波形与实际测试波形之间的偏差所带给读者的困惑。最后,在每一章结尾给出了丰富的参考文献和有价值的延伸阅读资料,多为工业界应用手册和具备工程应用前景的学术论文,兼顾前沿性与实用价值。

作为泰克科技电源功率器件领域外部专家,高远也将参加2021年6月17日举办的泰克创新论坛之【超级实验室之旅与大咖面对面】活动,畅谈第三代半导体机遇与挑战,现场进行多方互动与在线实测对比。

在第三代半导体大势所趋的今天,希望该书为科研工作者、工程师们乘风破浪与快速向前,推波助澜。

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