超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统蒋安平

发布时间：2014-8-1 17:22 发布者：看门狗

关键词： IC测试

【作者】（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译
【出版商】电子工业出版社 , 2005.07
【ISBN号】7-121-01490-4
【页数】 511 ; 26cm

国外电子与通信教材系列:本书系统介绍了VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试和可测试性设计。内容包括测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型、测试方法等。

超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平译][电子工业出版社][200.rar (16 MB)

超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平译][电子工业出版社][200.rar (15.65 MB)

网友评论

rinllow6 发表于 2014-8-2 11:52:07

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spy007868 发表于 2014-8-2 13:16:00

谢谢分享。

urus 发表于 2014-8-2 20:58:07

谢谢分享

jimcmwang 发表于 2014-11-5 11:28:14

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jimcmwang 发表于 2014-11-5 11:28:25

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jimcmwang 发表于 2014-11-5 11:28:34

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春夏秋冬 发表于 2015-4-10 08:42:41

谢谢分享！

jimcmwang 发表于 2015-6-12 18:01:38

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xsj3501 发表于 2015-8-19 11:06:11

谢谢楼主分享，正需要这个

radio926 发表于 2015-9-8 23:48:25

谢谢分享

key330 发表于 2018-2-19 21:44:53

很不错的资料，很强大！

jimcmwang 发表于 2019-8-23 19:19:46

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