基于过采样技术提高SOC单片机片内A/D分辨率的研究与实现

发布时间：2013-9-11 13:49 发布者：newlife

资料下载：基于过采样技术提高SOC单片机片内A/D分辨率的研究与实现

更多过采样资料：提高AD精度的过采样文章

本文地址：https://www.eechina.com/thread-120728-1-1.html 【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布，目的在于传递和分享信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责；文章版权归原作者及原出处所有，如涉及作品内容、版权和其它问题，我们将根据著作权人的要求，第一时间更正或删除。