45nm 以下制造工艺介绍

发布时间:2012-11-26 16:10    发布者:绝对好文
关键词: 45nm
北京芯愿景软件技术有限公司的最新资料


根据摩尔定理,IC上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍,性能也将提升一倍。但随着IC上晶体管的集成度越来越高,在45nm节点技术中,MOS管的栅介质厚度减小到了1.2nm,几乎只是5个硅原子的厚度,器件的物理电气性能几乎达到了极限。因此,这些困难都催生了新一代金属的诞生。在45nm技术节点处,以金属/高K介质为代表的新一代工艺技术已经开始应用于半导体产业。在32nm技术节点及以下,这些技术必将得到进一步的推广和应用。而在技术发展的过程中,半导体产业也遇到了成本研发成本不断提高,先进技术的集中化和垄断化程度越来越高的趋势,调研报告最后也对半导体产业的市场现状作了一定的总结和分析。

45纳米以下制造工艺介绍.pdf (805.95 KB)

本文地址:https://www.eechina.com/thread-102041-1-1.html     【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布,目的在于传递和分享信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责;文章版权归原作者及原出处所有,如涉及作品内容、版权和其它问题,我们将根据著作权人的要求,第一时间更正或删除。
您需要登录后才可以发表评论 登录 | 立即注册

厂商推荐

  • Microchip视频专区
  • 为何选择集成电平转换?
  • 想要避免发生灾难,就用MPLAB® SiC电源仿真器!
  • 基于CEC1712实现的处理器SPI FLASH固件安全弹性方案培训教程
  • 无线充电基础知识及应用培训教程2
  • 贸泽电子(Mouser)专区
关于我们  -  服务条款  -  使用指南  -  站点地图  -  友情链接  -  联系我们
电子工程网 © 版权所有   京ICP备16069177号 | 京公网安备11010502021702
快速回复 返回顶部 返回列表