乘着智能汽车的风口，HIL（硬件在环测试）被业界所熟知。更早以前，HIL测试主要用于航空航天行业，随着医疗、消费电子行业越来越多使用嵌入式软件，HIL测试逐渐在这些行业普及开来。
硬件在环测试（Hardware in the Loop, HIL），是指将真的控制器连接仿真的被控对象（用实时仿真硬件来模拟），以一种高效、低成本的方式对控制器进行全面测试。
适合所有人的HIL测试系统
传统的V型设计模型中，设计和测试之间存在一个巨大的障碍，嵌入式软件工程师负责开发软件和测试序列，并将其发送给测试工程师进行测试，然后测试工程师提供关于代码执行失败的问题报告。
这种方法的缺点是测试工程师将序列发回给设计工程师零要耗费很长的时间，而HIL可为组织中的软件工程师提供了便利，让他们能够快速思考，并测试想法，创建序列并直接在硬件中进行测试，甚至是远程测试。他们可访问控制器并测试软件，并立即获得非常及时的反馈。
设计测试模型
关于HIL的广泛适用性，NI投资组合事业部高级验证产品市场经理Anna Pedale在一个网络研讨会中提出，HIL系统适合所有人。
Anna Pedale表示：“如果您正在测试复杂的产品，测试该产品中的嵌入式软件，并且需要跨多个团队利用组织中的多种工具，而且您认为采用新的测试策略困难重重。那么，HIL就是您的不二之选。这也是HIL适合所有人的原因。”
HIL测试好处多多，但搭建一个兼顾成本和性能的HIL系统并不容易。NI HIL平台采用模块化架构，具有开放性和可扩展性，可以适应不断变化的系统要求。
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