基于LabVIEW和NI PXI射频仪器，ST-Ericsson将半导体测试速度提升10倍
发布时间：2012-7-9 18:07
发布者：eechina
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挑战：构建灵活的验证测试解决方案，满足半导体芯片测试的多种射频标准，进而升级整个特性记述实验室。 解决方案：使用软件定义的NI PXI平台，取代笨重、昂贵、难以调整的箱型仪器。 作者：Sylvain Bertrand - ST-Ericsson 在智能手机与平板电脑的半导体开发方面，ST-Ericsson是业界的领导厂商。我们在全球都设有开发与测试中心以及多个特性记述实验室，可完整 地测试与验证智能手机和平板电脑的射频元件/平台。 这些平台包含多种无线电，例如GPS、蓝牙、3G、4G等规格，这一系列的平台测试作业包含了近800,000次测量。 ST-Ericsson芯片本身极为复杂，因此就需要验证实验室能够满足多种射频标准，且达到严格测试的效能需求。 就算只是连接这些芯片，也需要多种标准与自定制数字协议。 然而，射频分析仪、发生器、数字波形发生器等传统箱型仪器体积庞大又昂贵，且其灵活度无法满足ST-Ericsson的需求。 ST-Ericsson的测试工程师因此选用了PXI平台来取代传统箱型仪器。 他们选择了NI FlexRIO与不同的数字标准，例如串行外设接口(SPI)和内置集成电路(I2C)，进行通信。即便目前市面上的数字适配器模块不能够满足需求，工程师也可快速开发自己的适配器模块，无需担心电脑后端以及FPGA通信功能。 针对射频测试，ST-Ericsson选用了高性能的NI PXIe-5665矢量信号分析仪，它具备软件定义的特性，并可与NI LabVIEW工具包兼容，满足所有无线标准。
总的来说，相较之前的解决方案，PXI系统速度提升了十倍，而成本是之前的三分之一。PXI平台的灵活性，能够适应各种不同的数字和射频标准。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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