用4200-SCS系统的User Test Module进行实时数据绘图

发布时间：2012-3-22 13:35 发布者：eechina

4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境（KITE）软件，包含了两种测试模块：互动测试模块（ITM，Interactive TestModule）和用户测试模块（UTM，User Test Modul）。用户可以根据他们的偏爱和所要测试的类型来选择相应类型的模块。ITM提供了一种建立I-V测试的非常方便的方法，而所有要做的只是简单的鼠标移动和点击。ITM还允许进行实时数据绘图（即边测试边绘图）。另一方面，使用了UTM，用户可以用C语言和所提供的仪表库来编写测试程序。UTM被设计成在对4200-SCS和其他外部仪器进行控制时可以提供最大的灵活性，因而用户几乎可以创建任何所需的测试。

下载：

4200_Plotting_TN-CN.pdf (624.7 KB)

本文地址：https://www.eechina.com/thread-87634-1-1.html 【打印本页】

本站部分文章为转载或网友发布，目的在于传递和分享信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责；文章版权归原作者及原出处所有，如涉及作品内容、版权和其它问题，我们将根据著作权人的要求，第一时间更正或删除。