NI发布基于PXI平台的射频功率放大器测试解决方案
发布时间：2011-10-25 19:39
发布者：eechina
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基于NI PXI平台的测试解决方案可将测试吞吐量提升10倍 美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日在英国曼彻斯特的欧洲微波展上发布了完整的基于PXI平台的解决方案，用于RF功率放大器(PA)验证和生产测试。该解决方案充分体现了NI致力于为工程师提供快速、高效和准确的测试和测量解决方案的承诺。 全球领先的市场研究公司Frost&Sullivan同时指出，PXI市场规模有望于2017年达到10亿美元，NI也通过不断推进PXI模块化仪器的发展而推动PXI市场规模的增长。 基于NI PXI平台的功率放大器测试解决方案集成了多种混合信号的高性能仪器，以符合验证测试和生产环境中的快速、精确的PA测试的要求。 演示系统中展示的最新NI PXI仪器包括：NI PXIe-5665 14 GHz矢量信号分析仪、NI PXIe-6556数字参数测量单元（PPMU）、NI PXIe-4154电池仿真器以及NI PXIe-5186 12.5 GS/s, 5 GHz数字化仪。 借助这些基于PXI的模块化仪器，工程师可以实现各种PA测试和测量，诸如PVT、EVM、相邻信道泄漏比（ACLR）、电流泄漏、谐波和开路-短路测试等。 该解决方案是NI PXI平台的又一成功应用。NI PXI平台目前可提供超过450种不同的模块，可应对几乎所有的工程挑战。PXI平台的技术优势（包括先进的定时与同步功能）让工程师得以更方便地共享仪器间的触发和时钟信号。这些特点结合高速PXI Express总线使得PXI的速度相比传统的台式仪器解决方案可以高达10倍。NI还提供丰富的软件工具包支持包括LTE、GSM/EDGE、WCDMA、WLAN、WiMAX、ZigBee和蓝牙的各种RF标准。 此外，在2011年7月，NI完成了对AWR的收购，AWR是电子设计自动化（EDA）软件的一家领先供应商，提供用于射频与高频组件和系统设计的软件，其中包括AWR Microwave Office。此次收购进一步增强了NI PXI和AWR Microwave Office平台的优势，它们共同作为整个RF开发的互补性方案可加速从设计到生产测试的整个周期，包括功率放大器的设计和测试。 有关解决方案的更多信息，请参阅www.ni.com/patest。 |
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