泰克TLA6000系列逻辑分析仪推出新选件 简化DDR2 测试
发布时间：2011-4-15 10:10
发布者：嵌入式公社
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泰克公司日前宣布，推出完整的 DDR2 协议调试和验证解决方案，基于屡获奖项的 TLA6000 系列逻辑分析仪。TLA6000 系列新选件包含了嵌入式工程师——即使并非DDR2专家——用来验证和调试设计中存储子系统性能所需的各项工具。 DDR2 存储系统广泛用于当前大量嵌入式设计——通常用作微处理器总线或 FPGA 中的模块。DDR2 协议的复杂性以及大量命令/数据/地址信号，既难以直观地了解总线工作情况，也很难隔离潜在的问题。此外，设计人员必须保证信号定时和接口符合 JEDEC 标准。TLA6000 系列新增的 DDR2 选件以更为经济的价格提供了更加完整、易用的 DDR2 测试解决方案，满足新兴需求。 TLA6000 系列新选件含有用来查看地址、数据和控制信号的一系列工具，包括： • 内存芯片夹具（Memory chip interposers）便于探测嵌入式 DDR 存储器，不必设计探测接入点。这些内存芯片夹具（Memory chip interposers）配合 TLA6000独特的iCapture 模拟复用器 (Analog Mux)，可为逻辑分析仪与示波器提供单一探测解决方案，节省时间并最小化设置的复杂性。 • 协议解码软件显示所有 DDR2 事务，并具有 DDR2 事件触发功能。 • 采样点分析软件自动完成 TLA6000 正确配置过程，对 DDR2 信号进行精确采样。 • 协议冲突软件发现并报告违背 JEDEC 定义的 DDR2 协议的情况。 最新 TLA6000 系列 DDR2 选件将于2011年4月起在全球供货。 |
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